公开(公告)号：CN115185814B

公开(公告)日：2024-05-21

申请号：CN202210659903.5

申请日：2022-06-13

申请人： 中南大学

发明人： 任胜兵 ,  陈旭洋 ,  彭泽文 ,  左兴

IPC分类号： G06F11/36 ,  G06F18/23

摘要： 本发明公开了一种基于二维程序频谱的多缺陷定位方法、系统及设备，本方法根据测试用例集对源程序进行数据提取，获得数据提取信息；根据数据提取信息划分失败测试用例集和成功测试用例集，对失败测试用例集中的每个失败测试用例进行聚类分析；将每个缺陷的失败测试用例子集分别与成功测试用例集结合，获得每个缺陷的测试用例子集；对每个缺陷的测试用例子集进行特征转换，获得每个缺陷的测试用例子集的二维程序频谱；构建缺陷定位模型，基于缺陷定位模型和二维程序频谱，获取每个缺陷的测试用例子集的语句怀疑度列表；融合所有语句怀疑度列表，获得多缺陷定位报告；通过多缺陷定位报告定位多个缺陷。本发明能够提高多缺陷定位的精确度和效率。

公开(公告)号：CN115185814A

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN202210659903.5

申请日：2022-06-13

申请人： 中南大学

发明人： 任胜兵 ,  陈旭洋 ,  彭泽文 ,  左兴

IPC分类号： G06F11/36 ,  G06K9/62

摘要： 本发明公开了一种基于二维程序频谱的多缺陷定位方法、系统及设备，本方法根据测试用例集对源程序进行数据提取，获得数据提取信息；根据数据提取信息划分失败测试用例集和成功测试用例集，对失败测试用例集中的每个失败测试用例进行聚类分析；将每个缺陷的失败测试用例子集分别与成功测试用例集结合，获得每个缺陷的测试用例子集；对每个缺陷的测试用例子集进行特征转换，获得每个缺陷的测试用例子集的二维程序频谱；构建缺陷定位模型，基于缺陷定位模型和二维程序频谱，获取每个缺陷的测试用例子集的语句怀疑度列表；融合所有语句怀疑度列表，获得多缺陷定位报告；通过多缺陷定位报告定位多个缺陷。本发明能够提高多缺陷定位的精确度和效率。