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公开(公告)号:CN116800212B
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN202311062747.5
申请日:2023-08-23
Applicant: 中北大学
IPC: H03F1/52 , H03H7/01 , H03K17/687 , H03G3/30 , G01N29/44
Abstract: 本发明属于测量电变量领域,具体为具有钳位功能的增益可调非接触式超声接收信号处理电路,包括:限幅电路,具有窄带前放功能的输出钳位电路1、2、3,第1级宽带程控放大电路,具有宽带放大及滤波功能的输出钳位电路,第2级宽带程控放大电路,窄带滤波及钳位输出电路1、2、3,单端/差分转换电路,A/D转换电路,FPGA,通讯接口电路,程控开关电路1,程控开关电路2,电源,程控增益电路,程控增益电路包括双路DA转换电路和直流放大电路1、2。本发明解决了大冲击、强干扰环境下非接触式超声换能器幅值时小时大、频率时高时低接收信号的放大、处理及采集等问题,对于非接触式超声检测技术的推广及应用具有重大意义。
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公开(公告)号:CN117233263B
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311514521.4
申请日:2023-11-15
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及超声无损检测技术领域,具体为用于管道轴向检测缺陷的窄声束电磁超声传感器及装置,其为了解决现有的单个阵元传感器和环形阵列传感器均无法对管道的被支撑支架遮挡区域内的缺陷进行有效检测的问题,故提供了一种新的用于管道轴向检测缺陷的窄声束电磁超声传感器及装置,包括三个阵元传感器,每个阵元传感器均包括一个跑道型线圈以及压于跑道型线圈上部的两组阵列永磁体,每组阵列永磁体均包括多个并排布置的磁块,三个跑道型线圈呈一字型并排布置且互连,三个阵元传感器中所有的相邻两个磁块的磁极均交替布置。本发明中的传感器能对管道的被支撑支架遮挡区域内的缺陷进行有效检测。
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公开(公告)号:CN116800212A
公开(公告)日:2023-09-22
申请号:CN202311062747.5
申请日:2023-08-23
Applicant: 中北大学
IPC: H03F1/52 , H03H7/01 , H03K17/687 , H03G3/30 , G01N29/44
Abstract: 本发明属于测量电变量领域,具体为具有钳位功能的增益可调非接触式超声接收信号处理电路,包括:限幅电路,具有窄带前放功能的输出钳位电路1、2、3,第1级宽带程控放大电路,具有宽带放大及滤波功能的输出钳位电路,第2级宽带程控放大电路,窄带滤波及钳位输出电路1、2、3,单端/差分转换电路,A/D转换电路,FPGA,通讯接口电路,程控开关电路1,程控开关电路2,电源,程控增益电路,程控增益电路包括双路DA转换电路和直流放大电路1、2。本发明解决了大冲击、强干扰环境下非接触式超声换能器幅值时小时大、频率时高时低接收信号的放大、处理及采集等问题,对于非接触式超声检测技术的推广及应用具有重大意义。
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公开(公告)号:CN117233263A
公开(公告)日:2023-12-15
申请号:CN202311514521.4
申请日:2023-11-15
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及超声无损检测技术领域,具体为用于管道轴向检测缺陷的窄声束电磁超声传感器及装置,其为了解决现有的单个阵元传感器和环形阵列传感器均无法对管道的被支撑支架遮挡区域内的缺陷进行有效检测的问题,故提供了一种新的用于管道轴向检测缺陷的窄声束电磁超声传感器及装置,包括三个阵元传感器,每个阵元传感器均包括一个跑道型线圈以及压于跑道型线圈上部的两组阵列永磁体,每组阵列永磁体均包括多个并排布置的磁块,三个跑道型线圈呈一字型并排布置且互连,三个阵元传感器中所有的相邻两个磁块的磁极均交替布置。本发明中的传感器能对管道的被支撑支架遮挡区域内的缺陷进行有效检测。
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公开(公告)号:CN114062495A
公开(公告)日:2022-02-18
申请号:CN202111349546.4
申请日:2021-11-15
Applicant: 中北大学 , 江苏瀚羽科技发展有限公司
Abstract: 本发明公开一种增强电磁超声SH波跨越焊缝检测缺陷能力的方法及装置,方法包括常规检测和时反检测;主要采用电磁超声检测仪器激发电磁超声SH导波换能器,在试件对接焊板中产生超声SH波,然后电磁超声SH导波换能器再接收检测回波,经电磁超声检测仪器进行放大、滤波等处理后离散化为数字信号,并传输至上位机;上位机分别提取常规检测时程曲线中焊缝回波之后的每个区间段回波信号的波形数据点,再次采用时反波激发电磁超声SH导波换能器,在试件对接焊板中产生时反超声SH波,然后电磁超声SH导波换能器再接收检测回波,经电磁超声检测仪器处理后传输至上位机进行分析、显示,以判断缺陷信息。
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