公开(公告)号：CN109238677B

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201811103172.6

申请日：2018-09-20

Applicant: 中北大学

Inventor： 秦栋泽 ,  田红英 ,  皇甫勇兵

IPC: G01M13/00

Abstract: 本发明属于测试技术领域，是一种基于压电薄膜的球转子轨迹的实验室测试方法，主要由底座、外壳、螺丝、离心簧、离心塞、离心子、压电薄膜阵列、上壳、球腔合件、电源及信号处理电路、球转子、假雷管、下壳、固定螺丝组成，通过球转子运动时压电薄膜阵列产生电压的工况，确定球转子的接触位置，分析球转子的运动轨迹。本发明的目的是提供一种球转子轨迹的实验室测试方法。

公开(公告)号：CN109238677A

公开(公告)日：2019-01-18

申请号：CN201811103172.6

申请日：2018-09-20

Applicant: 中北大学

Inventor： 秦栋泽 ,  田红英 ,  皇甫勇兵

IPC: G01M13/00

Abstract: 本发明属于测试技术领域，是一种基于压电薄膜的球转子轨迹的实验室测试方法，主要由底座、外壳、螺丝、离心簧、离心塞、离心子、压电薄膜阵列、上壳、球腔合件、电源及信号处理电路、球转子、假雷管、下壳、固定螺丝组成，通过球转子运动时压电薄膜阵列产生电压的工况，确定球转子的接触位置，分析球转子的运动轨迹。本发明的目的是提供一种球转子轨迹的实验室测试方法。