公开(公告)号：CN105181713B

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201510448229.6

申请日：2015-07-19

Applicant: 中北大学

Inventor： 王明泉 ,  张俊生 ,  杨冰倩 ,  李志鹏 ,  王艳祥 ,  王智伟

IPC: G01N21/952

Abstract: 本发明公开了一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测装置，包括本体、光源、相机、镜头、计算机；本体用于上下安置光源和相机，形成合适成像环境，光源用于提供成像时稳定照明，镜头用于将视场范围内被检测的物体光纤倒像器精确投影到相机感光芯片靶面上，相机用于将光学图像转变为电信号，用的计算机于接收相机电信号、并将采集到的图像数据进行处理以及后续缺陷标注和数据保存。本发明能够实现直径在35毫米以下的光纤倒像器表面一次成像，有效避免了现有显微镜成像多次放大的不足，同时满足缺陷检测的精度要求。

公开(公告)号：CN105181713A

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：CN201510448229.6

申请日：2015-07-19

Applicant: 中北大学

Inventor： 王明泉 ,  张俊生 ,  杨冰倩 ,  李志鹏 ,  王艳祥 ,  王智伟

IPC: G01N21/952

Abstract: 本发明公开了一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测装置，包括本体、光源、相机、镜头、计算机；本体用于上下安置光源和相机，形成合适成像环境，光源用于提供成像时稳定照明，镜头用于将视场范围内被检测的物体光纤倒像器精确投影到相机感光芯片靶面上，相机用于将光学图像转变为电信号，用的计算机于接收相机电信号、并将采集到的图像数据进行处理以及后续缺陷标注和数据保存。本发明能够实现直径在35毫米以下的光纤倒像器表面一次成像，有效避免了现有显微镜成像多次放大的不足，同时满足缺陷检测的精度要求。

公开(公告)号：CN105021628A

公开(公告)日：2015-11-04

申请号：CN201510448230.9

申请日：2015-07-19

Applicant: 中北大学

Inventor： 王明泉 ,  张俊生 ,  王艳祥 ,  李志鹏 ,  杨冰倩 ,  王智伟

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测方法，步骤包括：(1)、获取原始图像，从原始图像中分离出光纤倒像器的成像区域；(2)、得到平均亮度图像，在分离出的图像范围内，求所有像素的灰度平均值；(3)、图像之间求差，用得到的灰度平均值去减分离出图像范围内每个像素的灰度值，得到其差值图像；(4)、差图二值化，用设定的阈值对分离出范围内的差值图像进行二值化处理，得到的白色区域即为分割出来的缺陷；(5)、缺陷分析与标注，对白色区域进行几何、统计分析，得出缺陷大小、个数等检测数据；(6)、得出结论并存储数据，根据设定的质量检测标准，判断产品是否合格，同时保存检测数据，完成检测。检测实现了数字化和自动化。

公开(公告)号：CN105021628B

公开(公告)日：2019-12-17

申请号：CN201510448230.9

申请日：2015-07-19

Applicant: 中北大学

Inventor： 王明泉 ,  张俊生 ,  王艳祥 ,  李志鹏 ,  杨冰倩 ,  王智伟

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开一种用于光纤倒像器表面缺陷的检测方法，步骤包括：(1)、获取原始图像，从原始图像中分离出光纤倒像器的成像区域；(2)、得到平均亮度图像，在分离出的图像范围内，求所有像素的灰度平均值；(3)、图像之间求差，用得到的灰度平均值去减分离出图像范围内每个像素的灰度值，得到其差值图像；(4)、差图二值化，用设定的阈值对分离出范围内的差值图像进行二值化处理，得到的白色区域即为分割出来的缺陷；(5)、缺陷分析与标注，对白色区域进行几何、统计分析，得出缺陷大小、个数等检测数据；(6)、得出结论并存储数据，根据设定的质量检测标准，判断产品是否合格，同时保存检测数据，完成检测。检测实现了数字化和自动化。