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公开(公告)号：CN115372184A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202110548239.2
申请日：2021-05-19
Applicant: 中兴通讯股份有限公司 , 陕西科技大学
IPC: G01N3/38
Abstract: 本发明公开了一种焊点寿命测试装置以及焊点寿命的预测方法。该焊点寿命测试装置包括：框架、支撑结构和驱动结构，支撑结构用于支撑待测试件，其中，待测试件的第一表面固定在支撑结构的表面，待测试件与第一表面相对的第二表面与框架连接，待测试件包括第一器件层、第二器件层和焊点层，焊点层位于第一器件层和第二器件层之间，用于固定第一器件层和第二器件层；驱动结构位于支撑结构远离待测试件的一侧且与框架连接，驱动结构与支撑结构连接，驱动结构用于提供作用在支撑结构上的拉力，其中，拉力的数值在预设数值范围内周期性变化。本发明的技术方案可实现一种准确度高且测试速度快的焊点寿命测试装置。
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