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发明公开
晶体振荡器健康度检测方法、装置及电子设备审中-实审

公开(公告)号：CN115343544A

公开(公告)日：2022-11-15

申请号：CN202110516829.7

申请日：2021-05-12

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 王喜 , 易哲 , 黄景丰 , 王斌 , 穆海明 , 陈建辉 , 甘浩 , 刘昊

IPC: G01R31/00 , G01R23/02

Abstract: 本发明实施例公开了一种晶体振荡器健康度检测方法、装置及电子设备，所述方法包括：获取晶体振荡器的特征参数；根据所述特征参数，确定晶体振荡器的频偏参数；根据所述晶体振荡器的频偏参数和预设的阈值，确定所述晶体振荡器的健康度。本发明实施例的方案能够有效地评估晶体振荡器的健康度，具有快速检测、准确率高等优点，特别适用于检测外场在用的大批量晶体振荡器的健康度，及时查找出老化严重或者频跳异常的晶体振荡器，进而提升无线网络服务质量。

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