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公开(公告)号:CN114812820A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202210714772.6
申请日:2022-06-23
Applicant: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
Abstract: 本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种色差检测方法及系统,方法包括:基于预先确定的光源照射方案,采用至少两种光谱的光源依次照射被测表面并分别成像,获得至少两幅检测图像;分别计算各所述检测图像的sRGB坐标,基于所述sRGB坐标处理并融合各所述检测图像,获得视觉显著图;基于所述视觉显著图,获取所述被测表面的色差值。本发明在至少两种光谱光源的照射下对被测表面进行成像,经处理融合后获得视觉显著图,该视觉显著图能够将不同颜色的色差凸显出来,具有较高的色差提取准确性。同时,本发明不需要额外设置分光棱镜及成像芯片,在提高色差检测准确性的同时达到了控制成本的目的。
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公开(公告)号:CN116448245A
公开(公告)日:2023-07-18
申请号:CN202310386237.7
申请日:2023-04-12
Applicant: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
Abstract: 本发明涉及光源校准技术领域,公开了一种光源光谱参数自校准方法及自校准系统,包括:获取光谱传感器采集的光源光谱数据;光源光谱数据为光源发出的光能量的光谱强度分布数据;将光源光谱数据与预先标定的光谱传感器标定光源光谱数据进行对比,判断光源光谱数据与光谱传感器标定的光源光谱数据是否匹配;若不匹配,则判定为需要进行自校准,根据预先构建的映射关系确定与光谱传感器标定的光源光谱数据对应的标准仪器标定的光源光谱数据,并利用标准仪器标定的光源光谱数据的光谱参数对光源的光谱参数进行校准;映射关系为标准仪器标定的光源光谱数据与光谱传感器标定的光源光谱数据之间的映射关系。本发明不仅提高了校准准确度和校准效率,而且成本低,可实施性高,有利于大范围推广应用。
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公开(公告)号:CN114812820B
公开(公告)日:2022-10-14
申请号:CN202210714772.6
申请日:2022-06-23
Applicant: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
Abstract: 本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种色差检测方法及系统,方法包括:基于预先确定的光源照射方案,采用至少两种光谱的光源依次照射被测表面并分别成像,获得至少两幅检测图像;分别计算各所述检测图像的sRGB坐标,基于所述sRGB坐标处理并融合各所述检测图像,获得视觉显著图;基于所述视觉显著图,获取所述被测表面的色差值。本发明在至少两种光谱光源的照射下对被测表面进行成像,经处理融合后获得视觉显著图,该视觉显著图能够将不同颜色的色差凸显出来,具有较高的色差提取准确性。同时,本发明不需要额外设置分光棱镜及成像芯片,在提高色差检测准确性的同时达到了控制成本的目的。
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公开(公告)号:CN114264665A
公开(公告)日:2022-04-01
申请号:CN202111584284.X
申请日:2021-12-22
Applicant: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种检测系统的校准方法及装置,提供一校准元件;校准方法包括:使多个光源沿不同的方向照射校准元件;通过成像装置分别采集每一个光源照射校准元件时的校准图像;基于校准图像获取校准系数,依据校准系数判断对应的光源的当前照射方向是否为目标照射方向;若否,根据校准系数调整对应的光源的照射方向。本发明通过使各个光源分别照射校准元件以得到校准图像,并基于校准图像获取校准系数,从而能够基于该校准系数以判断对应光源的照射方向是否符合要求,并在不符合要求时依据该校准系数进行相应调整;基于此,能够省去检测前对检测系统进行反复调试的工序,有效地简化了检测前的准备工序,进而提高了检测效率。
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公开(公告)号:CN216696101U
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202123248452.6
申请日:2021-12-22
Applicant: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种检测系统,包括用于放置待测工件的检测工位,以及用于照射所述检测工位的光源;还包括:校准机构,包括校准元件;当所述校准机构置于检测工位时,所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区;其中,所述暗区的所在位置用于确定所述光源照射方向的偏转角,基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。本实用新型能够快速地确定光源的偏转角,从而在光源的照射方向存在偏差时能够快捷高效地将其调整至目标照射方向,省去了反复调试的过程,有利于缩短检测时长以提高检测效率。此外,通过设置校准机构,能够降低对于光源产品组装精度的要求,因此能够降低光源成本,有利于实现面向市场的推广。
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