提高γ射线检测中的定时分辨率的装置和相关方法

    公开(公告)号:CN102141632A

    公开(公告)日:2011-08-03

    申请号:CN201010610736.2

    申请日:2010-12-29

    CPC classification number: G01T1/208 G01T1/1647

    Abstract: 提高γ射线检测中的定时分辨率的装置和相关方法。闪烁晶体阵列中的交互晶体响应于与γ射线的交互而发出闪烁光。闪烁光被一个或多个光电倍增管检测到。每个检测到闪烁光的光电倍增管在不同时间检测到闪烁光。本装置确定γ射线交互的位置,并使用交互的位置为每个由光电倍增管生成的波形生成校正时间。使用校正定时对各波形进行校正并且合并,以提取γ射线的估计到达时间。还使用噪声阈值设定来选择具有低噪声的波形进行合并,以提取估计到达时间。

    正电子发射计算机断层摄影装置、以及通过它执行的方法

    公开(公告)号:CN102670232B

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201210061629.8

    申请日:2012-03-09

    Inventor: K·C·布尔

    Abstract: 提供一种正电子发射计算机断层摄影装置,以及通过正电子发射计算机断层摄影装置执行的方法。该正电子发射计算机断层摄影装置能够提高能量分辨率。实施方式涉及的正电子发射计算机断层摄影装置具备:闪烁器阵列、光传感器、确定部、保存部、导出部。确定部根据从一个或多个光传感器输出的信号值,以被分割成比闪烁器的数量多的数量的区域的单位来确定γ射线与闪烁器的相互作用事件的检测位置。保存部导出合计信号值,并将导出的合计信号值与检测位置相关联地保存于存储部中。导出部根据与检测位置相关联地保存于存储部中的合计信号值与规定能量值,对每个区域的单位导出校正能量值的校正值。

    提高γ射线检测中的定时分辨率的装置和相关方法

    公开(公告)号:CN102141632B

    公开(公告)日:2014-06-18

    申请号:CN201010610736.2

    申请日:2010-12-29

    CPC classification number: G01T1/208 G01T1/1647

    Abstract: 提高γ射线检测中的定时分辨率的装置和相关方法。闪烁晶体阵列中的交互晶体响应于与γ射线的交互而发出闪烁光。闪烁光被一个或多个光电倍增管检测到。每个检测到闪烁光的光电倍增管在不同时间检测到闪烁光。本装置确定γ射线交互的位置,并使用交互的位置为每个由光电倍增管生成的波形生成校正时间。使用校正定时对各波形进行校正并且合并,以提取γ射线的估计到达时间。还使用噪声阈值设定来选择具有低噪声的波形进行合并,以提取估计到达时间。

    正电子发射计算机断层摄影装置、以及通过它执行的方法

    公开(公告)号:CN102670232A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201210061629.8

    申请日:2012-03-09

    Inventor: K·C·布尔

    Abstract: 提供一种正电子发射计算机断层摄影装置,以及通过正电子发射计算机断层摄影装置执行的方法。该正电子发射计算机断层摄影装置能够提高能量分辨率。实施方式涉及的正电子发射计算机断层摄影装置具备:闪烁器阵列、光传感器、确定部、保存部、导出部。确定部根据从一个或多个光传感器输出的信号值,以被分割成比闪烁器的数量多的数量的区域的单位来确定γ射线与闪烁器的相互作用事件的检测位置。保存部导出合计信号值,并将导出的合计信号值与检测位置相关联地保存于存储部中。导出部根据与检测位置相关联地保存于存储部中的合计信号值与规定能量值,对每个区域的单位导出校正能量值的校正值。

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