一种石英晶体微天平检测装置

    公开(公告)号:CN103048210B

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201310009784.X

    申请日:2013-01-11

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 梁金星 黄佳 张天

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置,包括底座、封盖、硅胶垫片和石英晶片;石英晶片位于底座凹槽内,其底端中心加工有上下两面分别设有上电极和下电极的石英晶片凹槽;硅胶垫片上下两面分别与封盖和底座相连,且石英晶片凹槽左右两端与硅胶垫片相连;进样口和出样口均与中心长通孔相连通;上电极由上弹簧针探头依次穿过第三硅胶通孔和上探头通孔引出,下电极由下弹簧针探头穿过下探头通孔引出。本发明提供了一种石英晶体微天平检测装置,该装置中的流通池可以重复利用,结构简单,且性能稳定,还实现了对石英晶体微天平的高频小型化,提高了其质量-频率灵敏度,可以完成对小分子或痕量物质的检测,且所需待检测物的最小样品量小。

    一种基于实际减速效果的道路减速标线设置方法

    公开(公告)号:CN102518054B

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201110394275.4

    申请日:2011-12-02

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 一种基于实际减速效果的道路减速标线设置方法,首先对已设置在道路上的减速标线附近车速进行采集,利用高斯二次曲线拟合建立减速标线实际减速效果模型。基于减速标线实际减速效果模型,找出车辆通过减速标线时速度最低点位置,根据最低点位置与第一组标线的距离,提出新设置减速标线时第一组标线的设置点。本发明克服了之前减速标线设置仅根据理论分析和经验所存在的技术缺陷与不足,比以往的设置技术更科学,能更有效地发挥减速标线的作用。

    交通冲突仿真两阶段参数标定方法

    公开(公告)号:CN102521438B

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201110394248.7

    申请日:2011-12-02

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 一种交通冲突仿真的两阶段参数标定方法,步骤包括第一阶段对交通仿真软件(VISSIM)中影响交通运行的参数标定和第二阶段对冲突分析软件(SSAM)中仿真冲突判定阈值的标定。本发明在现有交通仿真模型参数标定方法的基础上,提出了面向交通冲突仿真的两阶段参数标定方法,克服了传统参数标定方法模拟仿真冲突精度低的缺陷,在利用微观仿真软件对交通设计方案进行安全研究方面具有实际工程运用价值。

    石英晶体微天平检测装置

    公开(公告)号:CN103558112B

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201310580821.2

    申请日:2013-11-19

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 梁金星 黄佳 孔婷

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置,包括中间层、密封垫片、封盖和石英晶片;中间层中心设有中间层凹槽,中间层凹槽底端设有左探头通孔和右探头通口;封盖上设有进样口和出样口;石英晶片位于中间层凹槽内,且在石英晶片底端中心设有一个开口向下的石英晶片凹槽;石英晶片凹槽底端分别设有左电极和右电极;密封垫片位于封盖和中间层之间;左电极由左弹簧针探头穿过左探头通孔引出,右电极由右弹簧针探头穿过右探头通孔引出。本发明流通池结构,具有方便装卸、可重复利用、结构简单以及性能稳定等优点,实现了对石英晶体微天平的高频小型化,提高了其质量-频率灵敏度,可以完成对小分子或痕量物质的检测,且所需待检测物的最小样品量小。

    一种基于控速效果的自动化固定测速系统装置设置方法

    公开(公告)号:CN102521987A

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN201110394095.6

    申请日:2011-12-02

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明为一种基于控速效果的自动化固定测速系统装置设置方法,首先实地采集该系统装置上下游不同断面的车速数据,通过统计分析、模型拟合得出装置对上下游车速影响的曲线模型,即控速效果模型,并基于该曲线得出在装置上游车速降低到限速值的大致位置和装置下游车速回复到限速值的大致位置,从而可对超速易发的危险地点附近该系统装置的具体设置位置提供建议,本发明为自动化固定测速系统装置的具体设置提供了一种明确而合理的方法。

    交通冲突仿真两阶段参数标定方法

    公开(公告)号:CN102521438A

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN201110394248.7

    申请日:2011-12-02

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 一种交通冲突仿真的两阶段参数标定方法,步骤包括第一阶段对交通仿真软件(VISSIM)中影响交通运行的参数标定和第二阶段对冲突分析软件(SSAM)中仿真冲突判定阈值的标定。本发明在现有交通仿真模型参数标定方法的基础上,提出了面向交通冲突仿真的两阶段参数标定方法,克服了传统参数标定方法模拟仿真冲突精度低的缺陷,在利用微观仿真软件对交通设计方案进行安全研究方面具有实际工程运用价值。

    基于高精度相频分析的频率稳定度测量方法以及系统

    公开(公告)号:CN108710026B

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201810614999.7

    申请日:2018-06-14

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于高精度相频分析的频率稳定度测量方法以及系统,该测量方法采用全数字式实现方案,使用多通道高速ADC直接对待测频率源和参考信号源的模拟频率信号执行采样和数字化处理,随后利用数字正交下变频技术实现双混频测量,进而通过高精度相频分析、相位差分计算和频率差分计算得到高精度的频率差分测量序列,计算重叠阿伦方差,从而得到待测频率源的频率稳定度测量。所提出的测量方法避免了模拟和半数字实现方案的设计难度大、开发周期长等缺点;采用高精度相频分析算法相对于目前的数字鉴相器测量方法,降低了对测量系统ADC器件的量化分辨率的要求,降低了硬件成本,并提供了采用更高速率ADC器件以提高系统可测量频率范围的能力。

    基于高精度相频分析的频率稳定度测量方法以及系统

    公开(公告)号:CN108710026A

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201810614999.7

    申请日:2018-06-14

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于高精度相频分析的频率稳定度测量方法以及系统,该测量方法采用全数字式实现方案,使用多通道高速ADC直接对待测频率源和参考信号源的模拟频率信号执行采样和数字化处理,随后利用数字正交下变频技术实现双混频测量,进而通过高精度相频分析、相位差分计算和频率差分计算得到高精度的频率差分测量序列,计算重叠阿伦方差,从而得到待测频率源的频率稳定度测量。所提出的测量方法避免了模拟和半数字实现方案的设计难度大、开发周期长等缺点;采用高精度相频分析算法相对于目前的数字鉴相器测量方法,降低了对测量系统ADC器件的量化分辨率的要求,降低了硬件成本,并提供了采用更高速率ADC器件以提高系统可测量频率范围的能力。

    石英晶体微天平检测装置

    公开(公告)号:CN103558112A

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201310580821.2

    申请日:2013-11-19

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 梁金星 黄佳 孔婷

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶体微天平检测装置,包括中间层、密封垫片、封盖和石英晶片;中间层中心设有中间层凹槽,中间层凹槽底端设有左探头通孔和右探头通口;封盖上设有进样口和出样口;石英晶片位于中间层凹槽内,且在石英晶片底端中心设有一个开口向下的石英晶片凹槽;石英晶片凹槽底端分别设有左电极和右电极;密封垫片位于封盖和中间层之间;左电极由左弹簧针探头穿过左探头通孔引出,右电极由右弹簧针探头穿过右探头通孔引出。本发明流通池结构,具有方便装卸、可重复利用、结构简单以及性能稳定等优点,实现了对石英晶体微天平的高频小型化,提高了其质量-频率灵敏度,可以完成对小分子或痕量物质的检测,且所需待检测物的最小样品量小。

    多通道石英晶体微天平检测装置

    公开(公告)号:CN103471950A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310441786.6

    申请日:2013-09-23

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 梁金星 黄佳

    Abstract: 本发明公开了一种多通道石英晶体微天平检测装置,包括上针探头、下针探头、底座、石英晶片、硅胶垫片和封盖,底座上表面设有底座凹槽,底座凹槽内嵌有石英晶片,石英晶片下表面设有开口向下多个石英晶片凹槽,在石英晶片下表面镀有一层下电极,在每个石英晶片凹槽的背面对应位置引向边缘处镀有上电极,硅胶垫片设置在底座上,在硅胶垫片上与石英晶片凹槽对应位置开有上下贯通的中心长通孔,封盖位于硅胶垫片上;在封盖上分别开设进样通道和出样通道,上针探头穿过封盖和硅胶垫片与上电极连接,下针探头穿过底座与下电极连接。本发明可以同时检测出多种待测物中的不同成分,且提高了检测精度。

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