-
公开(公告)号：CN117990214A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410169935.6
申请日：2024-02-06
Applicant: 东北大学
Abstract: 本申请公开了一种材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法，涉及发射率测量与辐射测温技术领域，解决目前存在由于使用热电偶对样品温度测量会改变样品表面的温度，基于测得的温度得到的材料发射率存在准确性较低的问题。该测量系统包括：上位机、温度控制装置及测温仪，上位机与温度控制装置连接、测温仪连接，控制温度控制装置将待测试样品、黑体炉升温至设定温度，控制测温仪测量遮挡管到达不同位置时待测试样品表面的第一温度、第二温度、第三温度以及第四温度，上位机根据第一温度、第二温度、第三温度和第四温度确定待测试样品的目标材料发射率。
-
公开(公告)号：CN117990214B
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202410169935.6
申请日：2024-02-06
Applicant: 东北大学
Abstract: 本申请公开了一种材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法，涉及发射率测量与辐射测温技术领域，解决目前存在由于使用热电偶对样品温度测量会改变样品表面的温度，基于测得的温度得到的材料发射率存在准确性较低的问题。该测量系统包括：上位机、温度控制装置及测温仪，上位机与温度控制装置连接、测温仪连接，控制温度控制装置将待测试样品、黑体炉升温至设定温度，控制测温仪测量遮挡管到达不同位置时待测试样品表面的第一温度、第二温度、第三温度以及第四温度，上位机根据第一温度、第二温度、第三温度和第四温度确定待测试样品的目标材料发射率。
-
Search Results
2
records
(took 0.022 seconds)
