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公开(公告)号:CN1551305A
公开(公告)日:2004-12-01
申请号:CN200410037990.2
申请日:2004-05-14
Applicant: 东京毅力科创株式会社
IPC: H01L21/3065 , H01L21/205 , H01L21/00
CPC classification number: H01J37/32174 , H01J37/32082 , H01J37/32935 , H05H1/46 , Y10S438/905
Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置及其控制方法,它能够原样维持运转状态从处理室中除去附着物。在即将开始对晶片的等离子体处理之前,对下部电极施加过冲电压。通过该过冲电压,除去在下部电极的周边部附着堆积的附着物,所以可防止在等离子体刚点火后在处理室内的异常放电的发生。过冲电压是例如通过调整匹配器的电抗而被生成。
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公开(公告)号:CN1306567C
公开(公告)日:2007-03-21
申请号:CN200410037990.2
申请日:2004-05-14
Applicant: 东京毅力科创株式会社
IPC: H01L21/3065 , H01L21/205 , H01L21/00
CPC classification number: H01J37/32174 , H01J37/32082 , H01J37/32935 , H05H1/46 , Y10S438/905
Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置及其控制方法,它能够原样维持运转状态从处理室中除去附着物。在即将开始对晶片的等离子体处理之前,对下部电极施加过冲电压。通过该过冲电压,除去在下部电极的周边部附着堆积的附着物,所以可防止在等离子体刚点火后在处理室内的异常放电的发生。过冲电压是例如通过调整匹配器的电抗而被生成。
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