公开(公告)号：CN111512704A

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：CN201880083388.2

申请日：2018-10-29

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 奥野将人 ,  渡边充

IPC: H05F1/00 ,  B05D1/02 ,  B05D5/00 ,  B05D7/00 ,  B65H20/02 ,  H05F1/02

Abstract: 例如，在不预先对作为长条的聚合物薄膜等的卷材赋予电荷的情况下，制造能够控制带电量的卷材。在包含输送卷材的输送工序在内的卷材的制造方法中，向输送卷材的输送辊与卷材的界面处提供液体，对因输送辊与卷材的摩擦起电而产生于卷材的表面的带电量进行控制。作为液体，例如使用与卷材之间产生摩擦起电的液体，该摩擦起电的极性与因输送辊与卷材的摩擦起电而产生于卷材的表面的带电极性相反。

公开(公告)号：CN111684269A

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN201980012240.4

申请日：2019-03-12

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 渡边充

IPC: G01N23/18 ,  G01B11/00 ,  G01N21/892

Abstract: 提供异物的检查方法，能够可靠地检测卷绕以高速输送的薄膜而得的薄膜辊中所含的微小的异物(例如包括检测是否为金属异物)。在用于实现上述目的的本发明的异物的检查方法中，针对即将卷绕于薄膜辊之前的输送中的薄膜，使用光学拍摄部来检测该薄膜上的异物，并将薄膜上的平面坐标下的异物的位置保存在存储部中，将平面坐标下的异物的位置转换为卷绕后的薄膜辊中的空间坐标下的异物的位置。而且，限定于所得到的薄膜辊中的异物的空间坐标，进行X射线拍摄装置等放射线拍摄部的对焦，通过放射线拍摄部来照射放射线，检测薄膜辊中的异物是否为金属。

公开(公告)号：CN111684269B

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN201980012240.4

申请日：2019-03-12

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 渡边充

IPC: G01N23/18 ,  G01B11/00 ,  G01N21/892

Abstract: 提供异物的检查方法，能够可靠地检测卷绕以高速输送的薄膜而得的薄膜辊中所含的微小的异物(例如包括检测是否为金属异物)。在用于实现上述目的的本发明的异物的检查方法中，针对即将卷绕于薄膜辊之前的输送中的薄膜，使用光学拍摄部来检测该薄膜上的异物，并将薄膜上的平面坐标下的异物的位置保存在存储部中，将平面坐标下的异物的位置转换为卷绕后的薄膜辊中的空间坐标下的异物的位置。而且，限定于所得到的薄膜辊中的异物的空间坐标，进行X射线拍摄装置等放射线拍摄部的对焦，通过放射线拍摄部来照射放射线，检测薄膜辊中的异物是否为金属。

公开(公告)号：CN112154322A

公开(公告)日：2020-12-29

申请号：CN201980033727.0

申请日：2019-06-26

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 渡边充

IPC: G01N23/16

Abstract: 在将在芯的外周面上卷绕有多圈的长条的膜的膜卷轴作为检查对象物进行X射线透过检查时，能够因异物的位置导致的检测灵敏度的差异的影响从而可靠地检测异物。一种放射线透过检查方法，设卷轴的一侧的侧面为侧端部A、另一侧的侧面为侧端部B，在该放射线透过检查方法中包含以下工序：第1异物检测工序，用第1检测器检测从第1放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射、在卷轴中透过而从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息；以及第2异物检测工序，用第2检测器检测从第2放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部B入射、在卷轴中透过而从侧端部A射出的放射线，得到关于异物的信息。