基于比色测温原理的增材温度监测及缺陷预测方法及系统

    公开(公告)号:CN119880964A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202411985115.0

    申请日:2024-12-31

    Abstract: 本发明提供了一种基于比色测温原理的增材温度监测及缺陷预测方法及系统,包括:记录打印过程中的运动系统的位置信号和温度信号;将根据比色测温原理采集的温度信号分割为隔相同时间间隔的时间长度一致的信号段落,提取每个段落内温度数据的特征参数;将打印得到的增材制造实验样品进行扫描,得到样品内部缺陷信息,结合运动系统位置信号数据,为每段温度信号数据打上标签;建立深度神经网络模型,将加工过程中实时获取的运动系统的位置信号和温度信号传入已训练好的DNN模型;使用DNN模型进行自动监测增材过程熔池温度并对缺陷进行预测。本发明提高训练精度,获得预测效果更好的模型。

Patent Agency Ranking