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公开(公告)号：CN114355038A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202210016083.8
申请日：2022-01-07
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G01R23/165
Abstract: 本发明公开了一种星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法，包括天线反射器、移动组件、金属斗、喇叭天线、标准辐射计、转动装置、角度测量装置和数据采集设备。本发明通过建立低亮温测试环境、改变天线反射器后向漏射亮温，通过标准辐射计输出变化，直接测量天线反射器后向漏射。本发明中使用标准辐射计直接测试天线反射器后向漏射，因此测试精度更高；本发明中使用转动装置模拟星载微波辐射计喇叭天线在轨运动轨迹，可以测试喇叭天线在多个位置的天线反射器后向漏射，且测试时间短；本发明中转动装置可以同时运动多个喇叭天线，可同时测试的频点多；具有良好的推广和应用价值。
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公开(公告)号：CN113139153B
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202110537570.4
申请日：2021-05-17
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载微波辐射计在轨反射面温度推算装置及方法，该装置及方法科学合理、易于实现。本发明基于星载微波辐射计在轨结构和运行规律，提供了有效而精准的在轨反射面温度推算装置及方法，可以通过微波辐射计的反射面温度、太阳高度角和方位角等历史数据来训练模型，以推算反射面在轨温度。可将反射面的推算温度作为星载微波辐射计的反射面温度备份，从而防止反射面温度测量模块失效而导致星载微波辐射计失效的问题，进而为星载微波辐射计在轨辐射测量的稳定性打下良好的基础。
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公开(公告)号：CN113139153A
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN202110537570.4
申请日：2021-05-17
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载微波辐射计在轨反射面温度推算装置及方法，该装置及方法科学合理、易于实现。本发明基于星载微波辐射计在轨结构和运行规律，提供了有效而精准的在轨反射面温度推算装置及方法，可以通过微波辐射计的反射面温度、太阳高度角和方位角等历史数据来训练模型，以推算反射面在轨温度。可将反射面的推算温度作为星载微波辐射计的反射面温度备份，从而防止反射面温度测量模块失效而导致星载微波辐射计失效的问题，进而为星载微波辐射计在轨辐射测量的稳定性打下良好的基础。
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