公开(公告)号：CN115542025A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202211163474.9

申请日：2022-09-23

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李向芹 ,  谢振超 ,  栾英宏 ,  何嘉凯 ,  龙澄 ,  葛如飞 ,  李雪 ,  吴涛 ,  邙晓斌 ,  王芸 ,  杨永键 ,  于雨

IPC: G01R29/10 ,  G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种辐射计天线微波发射率测试装置，包括：第一级联热控涂层试片、第二级联热控涂层试片、真空高温辐射源、真空低温辐射源、真空变温辐射源、接收组件、位置控制机构和控温仪，所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片设置于所述控温仪内部，所述接收组件设置于所述位置控制机构上，所述位置控制机构控制所述接收组件周期性的到达预定位置以分时接收所述真空高温辐射源、所述真空低温辐射源、所述真空变温辐射源发射的信号，其中，所述真空变温辐射源发射的信号包括经过和不经过所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片的信号。通过误差修正，精确获取级联热控涂层试片发射率。