公开(公告)号：CN115014248B

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202210650078.2

申请日：2022-06-09

Applicant: 上海第二工业大学

Inventor： 杜万和 ,  刘明言 ,  杨敬辉 ,  韩玲玲

IPC: G01B11/30

Abstract: 本发明涉及激光检测技术领域，具体是一种激光投射线的识别与平面度判定方法，该方法通过相机垂直拍摄激光线图像，首先提取激光投射线的颜色、轮廓和特征，对其进行滤波处理保留激光主光线的有效像素，将有效像素使用然后使用最小二乘法对所有有效像素点进行平面拟合，计算当前的平面离散程度，同时将有效像素点模拟水平度偏差20秒角度时的三维图像，计算偏差20秒时的平面离散程度，对比评判激光投射线的平面度是否合格；本方法可以检测出激光投射线的亮度、平面度，与标准参数做对比实现判断激光头的合格程度。

公开(公告)号：CN115014248A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210650078.2

申请日：2022-06-09

Applicant: 上海第二工业大学

Inventor： 杜万和 ,  刘明言 ,  杨敬辉 ,  韩玲玲

IPC: G01B11/30

Abstract: 本发明涉及激光检测技术领域，具体是一种激光投射线的识别与平面度判定方法，该方法通过相机垂直拍摄激光线图像，首先提取激光投射线的颜色、轮廓和特征，对其进行滤波处理保留激光主光线的有效像素，将有效像素使用然后使用最小二乘法对所有有效像素点进行平面拟合，计算当前的平面离散程度，同时将有效像素点模拟水平度偏差20秒角度时的三维图像，计算偏差20秒时的平面离散程度，对比评判激光投射线的平面度是否合格；本方法可以检测出激光投射线的亮度、平面度，与标准参数做对比实现判断激光头的合格程度。