公开(公告)号：CN118052195A

公开(公告)日：2024-05-17

申请号：CN202410055597.3

申请日：2024-01-15

Applicant: 上海空间电源研究所

Inventor： 陈海涛 ,  苗伟童 ,  丁帅 ,  邱燕 ,  姜煜煜 ,  任杰伟 ,  王磊 ,  黄军 ,  杨华

IPC: G06F30/398 ,  G06F111/08 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明公开了一种元器件综合重要度分析方法，包括如下步骤：S1、基于BDD分析方法，对电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个元器件的第一重要度；S2、基于复杂网络模型的分析方法，对所述电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个元器件的第二重要度；S3、根据所述第一重要度和所述第二重要度，确定各个元器件的综合重要度。本发明基于BDD方法提出的概率重要度以及基于复杂网络模型提出网络重要度的综合，将两种重要度的优点结合，减少各自缺点的影响，使后期可靠性分配更具有合理性，更能联系实际指导元器件选型，进而实现可靠性优化设计。