公开(公告)号：CN109668865B

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN201910007345.2

申请日：2019-01-04

Applicant: 上海科源电子科技有限公司 ,  上海纽钛测控技术有限公司

Inventor： 王义坤 ,  郭彩虹 ,  王振煜 ,  袁旭军 ,  张彦龙 ,  陈伟源

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明涉及一种荧光检测器稳定性测定装置的测定方法，该装置具有一个外壳，一个标准光传感器，一个标准光源，外壳内上部设有用于放置荧光检测器的左右两个安装凹槽，两个安装凹槽下方分别设有标准光源、标准光传感器，标准光源和标准光传感器上方分别置有衰减片，标准光源和标准光传感器通过主控板连接上位机，上位机通过主控板连接荧光检测器。本发明利用标准光传感器测定荧光检测器激发光源的稳定性能，利用前置衰减片的标准光源模拟微弱荧光以测定荧光检测模块的稳定性能。在两个测定过程中，均采用更换衰减片的技术方案消除标准光传感器或者标准光源自身漂移对测定结果的影响。本发明公开的测定装置及测定方法，为荧光的定量检测分析提供可靠依据。

公开(公告)号：CN109668865A

公开(公告)日：2019-04-23

申请号：CN201910007345.2

申请日：2019-01-04

Applicant: 上海科源电子科技有限公司 ,  上海纽钛测控技术有限公司

Inventor： 王义坤 ,  郭彩虹 ,  王振煜 ,  袁旭军 ,  张彦龙 ,  陈伟源

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明涉及一种荧光检测器稳定性测定装置的测定方法，该装置具有一个外壳，一个标准光传感器，一个标准光源，外壳内上部设有用于放置荧光检测器的左右两个安装凹槽，两个安装凹槽下方分别设有标准光源、标准光传感器，标准光源和标准光传感器上方分别置有衰减片，标准光源和标准光传感器通过主控板连接上位机，上位机通过主控板连接荧光检测器。本发明利用标准光传感器测定荧光检测器激发光源的稳定性能，利用前置衰减片的标准光源模拟微弱荧光以测定荧光检测模块的稳定性能。在两个测定过程中，均采用更换衰减片的技术方案消除标准光传感器或者标准光源自身漂移对测定结果的影响。本发明公开的测定装置及测定方法，为荧光的定量检测分析提供可靠依据。

公开(公告)号：CN209337412U

公开(公告)日：2019-09-03

申请号：CN201821739980.7

申请日：2018-10-25

Applicant: 上海纽钛测控技术有限公司 ,  上海科源电子科技有限公司

Inventor： 章鑫贤 ,  袁旭军 ,  李钧 ,  张彦龙 ,  陈伟源 ,  刘大伟

IPC: B65G7/12

Abstract: 本实用新型涉及一种手动取出分装培养皿装置，立板底部固定连接底板，立板后面设有搬运手柄，立板上部连接可调高度位置的调节板；所述立板前面设有凹槽，凹槽两侧设有沿高度方向布置的定位孔，凹槽背面两侧设有长腰槽；所述调节板后部两侧分别设有弹性定位机构，弹性定位机构由滚珠、弹簧组成，滚珠通过弹簧安装在调节板内；所述调节板通过弹性定位机构中的滚珠与立板凹槽两侧内的定位孔配合定位连接；所述调节板后端两侧设有连接螺孔，连接螺孔与立板1凹槽背面两侧的长腰槽相对应，并分别通过螺纹连接穿过立板凹槽背面两侧的长腰槽的旋钮和导向螺杆，由旋钮锁紧固定调节板。

公开(公告)号：CN209589846U

公开(公告)日：2019-11-05

申请号：CN201920016188.7

申请日：2019-01-04

Applicant: 上海科源电子科技有限公司 ,  上海纽钛测控技术有限公司

Inventor： 王义坤 ,  郭彩虹 ,  王振煜 ,  袁旭军 ,  张彦龙 ,  陈伟源

IPC: G01N21/64

Abstract: 本实用新型涉及一种荧光检测器稳定性测定装置，该装置具有一个外壳，一个标准光传感器，一个标准光源，外壳内上部设有用于放置荧光检测器的左右两个安装凹槽，两个安装凹槽下方分别设有标准光源、标准光传感器，标准光源和标准光传感器上方分别置有衰减片，标准光源和标准光传感器通过主控板连接上位机，上位机通过主控板连接荧光检测器。本实用新型利用标准光传感器测定荧光检测器激发光源的稳定性能，利用前置衰减片的标准光源模拟微弱荧光以测定荧光检测模块的稳定性能。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利