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公开(公告)号：CN119804556A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202311319061.X
申请日：2023-10-11
Applicant: 上海科技大学
IPC: G01N27/00
Abstract: 本发明公开一种目标粒子的获取方法、装置、粒子的确定方法。目标粒子的获取方法包括操控带电粒子在电场和流体的作用场中迁移；将目标位置处的带电粒子筛选为目标粒子；电场的强度根据目标位置、目标粒子的电迁移率以及流体的流速确定。通过上述目标粒子的获取方法，根据电场的强度、目标位置以及流体的流速，就可筛选不同的电迁移率的粒子，电迁移率与特定几何结构的粒子一一对应，因此可实现对特定几何结构粒子进行精准的筛选。另外，通过在不同电场强度下目标位置的粒子的收集信号，即可实现粒子的电迁移率/几何结构/质量的确定，筛选和在线测试的环境要求低(比如常温常压即可进行)，还可以对同分异构体的带电粒子中筛选出目标粒子。
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