公开(公告)号：CN107179313B

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201710343862.8

申请日：2017-05-16

Applicant: 上海电缆研究所有限公司

Inventor： 姚大伟 ,  张远望 ,  袁德华

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提供一种电工用再生铜杆性能的评估方法，测定待测铜杆中各个元素的质量百分数；将待测铜杆制备成金相试样，测定该金相试样的晶粒截距平均值；测定待测铜杆的表面维氏硬度；当待测铜杆中各个元素质量百分数符合预设的电解铜杆元素质量百分数的标准，且待测铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值在预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围内，且待测铜杆的表面维氏硬度在预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围内，则待测铜杆为电解铜杆；否则，待测铜杆为电工用再生铜杆。本发明通过对待测铜杆的微观组织成分及材料性能两个方面的分析为将待测铜杆进行是否为电工用再生铜杆的评估，提供了一种可靠、便捷的评估方法。

公开(公告)号：CN107179313A

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201710343862.8

申请日：2017-05-16

Applicant: 上海电缆研究所有限公司

Inventor： 姚大伟 ,  张远望 ,  袁德华

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提供一种电工用再生铜杆性能的评估方法，测定待测铜杆中各个元素的质量百分数；将待测铜杆制备成金相试样，测定该金相试样的晶粒截距平均值；测定待测铜杆的表面维氏硬度；当待测铜杆中各个元素质量百分数符合预设的电解铜杆元素质量百分数的标准，且待测铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值在预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围内，且待测铜杆的表面维氏硬度在预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围内，则待测铜杆为电解铜杆；否则，待测铜杆为电工用再生铜杆。本发明通过对待测铜杆的微观组织成分及材料性能两个方面的分析为将待测铜杆进行是否为电工用再生铜杆的评估，提供了一种可靠、便捷的评估方法。