公开(公告)号：CN109946282B

公开(公告)日：2021-09-07

申请号：CN201910314687.9

申请日：2019-04-18

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 韩朝霞 ,  田程 ,  张大伟 ,  韩军强 ,  林辉 ,  洪瑞金 ,  陶春先 ,  黄元申 ,  黄卫佳 ,  倪争技

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/59 ,  G01N21/552

Abstract: 本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，本发明所涉及的测量方法，先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围，选择合适波长的截止滤光片，通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片，可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉，从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线；本发明操作简便，测量准确度高，适用面广，既适用于下转换荧光薄膜，也适用于上转换荧光薄膜，即适用于测量荧光薄膜的透射率，也适用于测量荧光薄膜的反射率。

公开(公告)号：CN109946282A

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201910314687.9

申请日：2019-04-18

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 韩朝霞 ,  田程 ,  张大伟 ,  韩军强 ,  林辉 ,  洪瑞金 ,  陶春先 ,  黄元申 ,  黄卫佳 ,  倪争技

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/59 ,  G01N21/552

Abstract: 本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，本发明所涉及的测量方法，先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围，选择合适波长的截止滤光片，通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片，可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉，从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线；本发明操作简便，测量准确度高，适用面广，既适用于下转换荧光薄膜，也适用于上转换荧光薄膜，即适用于测量荧光薄膜的透射率，也适用于测量荧光薄膜的反射率。

公开(公告)号：CN117607073A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202311408119.8

申请日：2023-10-27

Applicant: 上海光学仪器研究所 ,  上海理工大学

Inventor： 韩朝霞 ,  张大伟 ,  韩森 ,  洪瑞金 ,  陶春先 ,  黄卫佳 ,  倪争技 ,  庄松林

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/33 ,  G01N21/59 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提出一种用于测量高光密度薄膜吸光度或透射率光谱的测量方法，基于双光路紫外‑可见分光光度计的测量，通过减小薄膜在吸光度A>4或透射率T 4或透射率T