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公开(公告)号:CN117710471B
公开(公告)日:2024-12-17
申请号:CN202311831214.9
申请日:2023-12-28
Applicant: 上海理工大学
IPC: G06T7/77 , G06T7/60 , G06V10/762
Abstract: 本发明提出一种基于改进随机抽样一致算法的残缺点云平面拟合方法,包括初始化参数、三维点云下采样、基于随机抽样一致性算法拟合平面、体素聚类与体素中心滤波、三维点云上采样和计算平面完整率,通过随机选点计算平面模型参数并选出符合点数最多的平面,结合平面网格划分与体素聚类对拟合出的平面进行完整率判定,通过迭代优化获得平面完整率最优的拟合平面,本发明为复杂车间环境下缺失点云的连续平面拟合提供新方法,为自动驾驶、机器人导航、虚拟现实等领域中点云处理中提供重要借鉴。
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公开(公告)号:CN117710471A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202311831214.9
申请日:2023-12-28
Applicant: 上海理工大学
IPC: G06T7/77 , G06T7/60 , G06V10/762
Abstract: 本发明提出一种基于改进随机抽样一致算法的残缺点云平面拟合方法,包括初始化参数、三维点云下采样、基于随机抽样一致性算法拟合平面、体素聚类与体素中心滤波、三维点云上采样和计算平面完整率,通过随机选点计算平面模型参数并选出符合点数最多的平面,结合平面网格划分与体素聚类对拟合出的平面进行完整率判定,通过迭代优化获得平面完整率最优的拟合平面,本发明为复杂车间环境下缺失点云的连续平面拟合提供新方法,为自动驾驶、机器人导航、虚拟现实等领域中点云处理中提供重要借鉴。
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