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公开(公告)号：CN118859501A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410833948.9
申请日：2024-06-26
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹近场显微镜系统及滤除太赫兹近场显微镜中远场散射背景的方法，该系统包括：太赫兹发射源、第一空间滤波模块、分束镜、抛物面镜、探针散射模块、第二空间滤波模块、太赫兹探测器。第一空间滤波模块和第二空间滤波模块均包括两个太赫兹正透镜和一个通光孔径可调节的针孔光阑。第一空间滤波模块位于太赫兹发射源和分束镜之间，用于对太赫兹发射源辐射的太赫兹波进行空间滤波和准直。第二空间滤波模块位于太赫兹探测器和分束镜之间，用于对抛物面镜收集的散射太赫兹波进行空间滤波和准直。本发明解决了太赫兹近场显微镜中远场散射背景影响近场信号检测的问题，能够有效提高近场显微成像的信噪比和衬度。
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