反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置

    公开(公告)号:CN118168657B

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202410150339.3

    申请日:2024-02-02

    Abstract: 本发明提供的反射光谱测量用光路系统涉及光谱测量领域,包括第一透镜和置于第一透镜两侧的光源和反射镜,反射镜相对于第一透镜倾斜设置,光源发射的光束穿过第一透镜并照于反射镜的反射区域内,样品待检测部位用于置于反射镜反射的光束的照射范围内,反射镜的反射区域设有通孔,通孔与光谱检测装置连接,待检测部位能反射照射至待检测部位的光束,待检测部位反射的至少部分光线能够照射至通孔内,并被光谱检测装置接收,待检测部件反射的、进入至通孔内的所有光线形成采集光束,采集光束与反射镜反射的光束的中心线共线。本发明还提供了反射光谱测量装置。该发明有利于提高光谱数据的准确性;具有较广的应用范围;提高了光源照明能量的利用率。

    反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置

    公开(公告)号:CN118168657A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410150339.3

    申请日:2024-02-02

    Abstract: 本发明提供的反射光谱测量用光路系统涉及光谱测量领域,包括第一透镜和置于第一透镜两侧的光源和反射镜,反射镜相对于第一透镜倾斜设置,光源发射的光束穿过第一透镜并照于反射镜的反射区域内,样品待检测部位用于置于反射镜反射的光束的照射范围内,反射镜的反射区域设有通孔,通孔与光谱检测装置连接,待检测部位能反射照射至待检测部位的光束,待检测部位反射的至少部分光线能够照射至通孔内,并被光谱检测装置接收,待检测部件反射的、进入至通孔内的所有光线形成采集光束,采集光束与反射镜反射的光束的中心线共线。本发明还提供了反射光谱测量装置。该发明有利于提高光谱数据的准确性;具有较广的应用范围;提高了光源照明能量的利用率。

    一种空间光调制器老化测试箱

    公开(公告)号:CN213121550U

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202022016930.X

    申请日:2020-09-15

    Inventor: 刘海军 陈常营

    Abstract: 本实用新型公开了一种空间光调制器老化测试箱,包括加热箱和顶盖,所述顶盖的顶部外壁固定连接有转动电机,且转动电机的输出轴固定连接有第一转动轴,所述第一转动轴的圆周外壁等距离固定连接有连接板,且连接板的底部外壁均转动连接有第二转动轴,所述第二转动轴的圆周外壁等距离设置有放置箱,且第二转动轴的圆周外壁底部固定连接有齿轮,所述加热箱的底部内壁开有安装槽。本实用新型在进行加热时,通过转动电机带动第一转动轴缓慢匀速转动,进而带动连接板旋转,连接板带动第二转动轴绕第一转动轴旋转,通过齿轮与环形齿槽的设计,带动第二转动轴旋转,致使放置箱在绕加热管旋转的同时也自转,从而达到受热均匀的目的。

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