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发明公开
雪崩电压的测试方法、装置、系统和电子设备审中-实审

公开(公告)号：CN117007928A

公开(公告)日：2023-11-07

申请号：CN202210474277.2

申请日：2022-04-29

申请人： 上海思立微电子科技有限公司

发明人： 付何洋 , 侯永生 , 方亚毜

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本说明书提供了雪崩电压的测试方法、装置、系统和电子设备。具体测试前，可以在测试电路中，将阻值大于第二阈值的保护电阻与待测试的目标光电二极管串联；并将目标光电二极管布设于辅助环境中；具体测试时，可以控制针对目标光电二极管的辅助环境满足预设的辅助条件，以增加目标光电二极管的PN结中的载流子，并对目标光电二极管进行一次或多次测试，以得到多组测试数据；进而可以根据上述多组测试数据，确定出目标光电二极管的雪崩电压。从而能够在不使用高精度的测试仪器的情况下，准确且安全地测试出光电二极管的雪崩电压，有效地降低了测试成本，减少了测试过程对光电二极管的损害。