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公开(公告)号：CN114544659A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210140450.5
申请日：2022-02-16
Applicant: 上海应用技术大学
Abstract: 本发明公开了一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法，包括检测平台、半圆柱型支架、加载端和评优端，所述检测平台，用于放置待检测的被分成无数小块的高光洁度表面；所述半圆柱型支架的长方形横切面平放在所述检测平台上，用于将高光洁度表面盖住；所述加载端安装在所述检测平台上方及所述半圆柱型支架下方内部，用于对高光洁度表面照射不同位置、不同角度及不同光级的RGB光；所述评优端，用于利用补色差的方法检测出每块小平面的最优模式，并经过多次实验进而利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度从而使得该缺陷检测装置可以以最优的模式快速检测出高光洁度表面上的缺陷。
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公开(公告)号：CN114544659B
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202210140450.5
申请日：2022-02-16
Applicant: 上海应用技术大学
Abstract: 本发明公开了一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法，包括检测平台、半圆柱型支架、加载端和评优端，所述检测平台，用于放置待检测的被分成无数小块的高光洁度表面；所述半圆柱型支架的长方形横切面平放在所述检测平台上，用于将高光洁度表面盖住；所述加载端安装在所述检测平台上方及所述半圆柱型支架下方内部，用于对高光洁度表面照射不同位置、不同角度及不同光级的RGB光；所述评优端，用于利用补色差的方法检测出每块小平面的最优模式，并经过多次实验进而利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度从而使得该缺陷检测装置可以以最优的模式快速检测出高光洁度表面上的缺陷。
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