-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN216160936U
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202122134478.1
申请日：2021-09-06
Applicant: 上海工程技术大学 , 万新光学集团有限公司
IPC: G02C11/00
Abstract: 本实用新型涉及一种镜腿上带有骨传导耳机的眼镜，包括镜框、镜片、鼻托、镜腿，镜片和鼻托设于镜框上，镜框通过镜腿连接件与镜腿连接，还包括骨传导耳机，骨传导耳机通过记忆合金软管与镜腿连接，骨传导耳机设有外壳，外壳上设有与记忆合金软管配合的记忆合金软管嵌入端，记忆合金软管的两端分别嵌入镜腿的尾端内部和骨传导耳机的外壳内部。与现有技术相比，本实用新型具有实用性较高、提高人体移动过程中耳机的稳定性、记忆功能避免重复调整眼镜位置、避免了有线耳机佩戴的不便，提高人身安全的安全系数等优点。
-
公开(公告)号：CN116309279A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211623106.8
申请日：2022-12-16
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明提供一种基于深度学习的引线框架划痕缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取引线框架的小单元图像，将具有划痕缺陷的图像进行标注，构建引线框架划痕缺陷数据集；构建用于划痕缺陷检测的改进yolov5目标检测网络模型；将所述引线框架划痕缺陷数据集送入改进的yolov5网络模型进行训练，训练出具有提取划痕特征并检测的深度学习模型；利用训练得到的改进的yolov5网络模型进行引线框架划痕缺陷检测。本发明将深度学习模型应用到引线框架划痕缺陷检测检测中，大大提高了划痕缺陷的检出率，对引线框架缺陷检测提供了技术支持。
-
公开(公告)号：CN115205515A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210809170.9
申请日：2022-07-11
Applicant: 上海工程技术大学
Abstract: 本发明公开了一种QFN引线框架检测图像处理方法，包括，获取QFN引线框架检测图像；利用模板匹配法获取所述QFN引线框架的定位点信息；根据获得的QFN引线框架定位点信息，计算所述QFN引线框架检测图像倾斜角度；计算所述引线框架在所述检测图像中的形心坐标。根据计算得到的倾斜角度和形心坐标对所述QFN引线框架在检测图像中的位置进行校正。
-
公开(公告)号：CN114937005A
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202210471824.1
申请日：2022-04-29
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/75 , G06V10/74 , G06V10/22 , G06V10/82 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 本发明提供了一种针对QFN芯片中少样本缺陷的检测算法，属于计算机视觉技术领域。该技术方案具体包括：获取框架上下表面图片，选取ROI区域并进行裁剪；使用标注软件进行数据标注；将标注后的图片划分为多样本缺陷数据集和少样本缺陷数据集；构建孪生Faster‑RCNN网络模型，使用多样本缺陷数据集进行元学习训练；利用训练好的模型对少样本缺陷数据集进行测试，得到图片的缺陷检测结果并进行评估；根据实际生产需求及检测效果重复以上操作，得到最终模型。本发明通过改进现有Faster‑RCNN网络结构和训练流程中数据采样方法，降低了对少样本缺陷数据量的需求。将推理模型转化为相似度计算模型，该算法具有良好的扩展性。
-
公开(公告)号：CN114926412A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210482692.2
申请日：2022-05-05
Applicant: 上海工程技术大学
Abstract: 本发明公开了一种QFN引线框架表面缺陷检测方法，包括，获取包括QFN引线框架阵列和承载所述QFN引线框架阵列的载台的第一图像；对第一图像进行图像分割获得多个QFN引线框架阵列单元图像；对QFN引线框架阵列中的单元图像提取模板图像及其像素值；根据单元图像像素值、模板图像像素值和预设差值阈值，检测判断单元图像中QFN引线框架的表面缺陷。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.185 seconds)
