公开(公告)号：CN113514787B

公开(公告)日：2022-08-05

申请号：CN202110635314.9

申请日：2021-06-08

Applicant: 上海大学

Inventor： 王廷云 ,  刘思晨 ,  黄怿 ,  邓传鲁 ,  胡程勇

IPC: G01R33/032

Abstract: 本发明公开了一种光纤磁致折变效应测量系统及方法，包括激光器、耦合器甲、传感光纤、参考光纤、载波发生器、耦合器乙、光电探测器、数据采集与处理模块。耦合器甲、传感光纤、参考光纤和耦合器乙构成Mach‑Zehnder光纤干涉仪。外界磁场对传感光纤的折射率产生影响，引起传感光纤与参考光纤两路光信号的光程差变化，改变耦合器乙输出的干涉光信号强度，通过对干涉光强的检测与处理，实现对磁场作用下传感光纤的折射率变化测量。本发明系统具有灵敏度高，结构简单，可远程控制，可分布式测量的优点。

公开(公告)号：CN113514787A

公开(公告)日：2021-10-19

申请号：CN202110635314.9

申请日：2021-06-08

Applicant: 上海大学

Inventor： 王廷云 ,  刘思晨 ,  黄怿 ,  邓传鲁 ,  胡程勇

IPC: G01R33/032

Abstract: 本发明公开了一种光纤磁致折变效应测量系统及方法，包括激光器、耦合器甲、传感光纤、参考光纤、载波发生器、耦合器乙、光电探测器、数据采集与处理模块。耦合器甲、传感光纤、参考光纤和耦合器乙构成Mach‑Zehnder光纤干涉仪。外界磁场对传感光纤的折射率产生影响，引起传感光纤与参考光纤两路光信号的光程差变化，改变耦合器乙输出的干涉光信号强度，通过对干涉光强的检测与处理，实现对磁场作用下传感光纤的折射率变化测量。本发明系统具有灵敏度高，结构简单，可远程控制，可分布式测量的优点。