一种测量磁化率各向异性的方法

    公开(公告)号:CN101788654A

    公开(公告)日:2010-07-28

    申请号:CN201010126280.2

    申请日:2010-03-17

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量磁化率各向异性的方法,属物质磁性之磁化率测量技术领域。本发明特点是利用薄膜在强磁场中发生取向的原理,通过XRD确定发生取向的磁场强度,通过SEM确定该磁场下薄膜的晶粒体积而计算出磁化率各向异性。易磁化轴磁化率χ||和垂直于易磁化轴磁化率χ⊥在300K时满足

    一种控制纳米粉体粒径的方法

    公开(公告)号:CN101376173A

    公开(公告)日:2009-03-04

    申请号:CN200810200307.0

    申请日:2008-09-24

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明提供一种控制纳米粉体粒径的方法,该法不需要改动制备装置,只需要在以电阻、高频感应、等离子体、电子束、激光等为加热源的蒸发冷凝法制备纳米粉体过程中,在蒸发冷凝处施加0.1~14T的超导强磁场。由于磁场改变蒸发原子的临界形核能进而改变其形核浓度和形核速度,从而达到通过调节磁场强度来控制纳米粉体粒径的目的。该法提高蒸发冷凝法制备纳米粉体的效率,均一性和粒径调节的范围。

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