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公开(公告)号:CN118826698A
公开(公告)日:2024-10-22
申请号:CN202310425145.5
申请日:2023-04-19
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种占空比检测方法及电路、时钟校正装置、芯片,该占空比检测方法包括:将并行采样数据分为两路数据;将所述两路数据分别与设定门限进行比较,得到比较结果;根据两路比较结果生成用于对时钟信号进行校正的相位控制信号和占空比控制信号。利用本发明方案,可以提高占空比检测结果的准确性,进而为高速SerDes提高精准时钟信号,并减小电路面积及功耗。
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公开(公告)号:CN119315969A
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202310850724.4
申请日:2023-07-11
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种时钟校正方法、电路及装置,该方法包括:根据失真偏移量和查找表对时钟进行多轮校正,直至校正参数达到锁定目标值后校正结束,所述查找表用于指示电压、温度与标定校正参数的对应关系;在校正结束后,利用所述锁定目标值和所述查找表中对应的标定校正参数确定下一轮校正的校正参数初始值和调整步长初始值,并将所述校正参数初始值和所述调整步长初始值写入所述查找表中。本发明方案可以加快时钟校正的锁定进程,提高时钟校正效率,节省硬件资源。
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