颗粒的杨氏弹性模量测量方法、装置、设备与存储介质

    公开(公告)号:CN119534117A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411439506.2

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种颗粒的杨氏弹性模量测量方法、装置、设备与存储介质,该方法包括:根据利用数码显微镜对待测颗粒进行长度测量得到的长轴长度和短轴长度、以及利用数码显微镜拍摄待测颗粒得到的正视轮廓图和侧视轮廓图、预设像素长度,确定待测颗粒的等效曲率半径;根据等效曲率半径、利用数据采集器获取到的位移传感器对接触平板进行位移量测得到的总位移、利用数据采集器获取到的荷载传感器测量的对待测颗粒被施加的荷载、预设参数,确定待测颗粒与接触平板接触的折合模量;根据折合模量、待测颗粒的泊松比、接触平板的杨氏弹性模量和泊松比,确定待测颗粒的杨氏弹性模量,降低了颗粒的杨氏弹性模量的测量成本和测量难度。

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