公开(公告)号：CN110018679B

公开(公告)日：2020-07-14

申请号：CN201910290434.2

申请日：2019-04-11

Applicant: 上海卫星工程研究所

Inventor： 吴侃侃 ,  魏晓阳 ,  郭艳丽 ,  陈德相 ,  范颖婷 ,  蒯文林 ,  黄思琴 ,  颜俊菁 ,  刘之超 ,  李瑞琴

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明涉及一种星载电子设备技术领域的航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法；所述测试系统所述系统包括航天器自主温控系统和闭环测试系统；所述航天器自主温控系统包括遥测采集模块、加热器驱动模块、处理器模块；所述闭环测试系统包括热敏电阻模拟板卡、加热器驱动检测板卡、上位机、测试终端；本发明还涉及前述测试系统的测试方法。本发明系统提出了航天器自主温控系统闭环测试方法，明确了闭环测试系统的相关组成，本发明的系统结构简单可靠，稳定性好，测试方法操作简便，测试效果良好；能够大幅缩短产品测试周期，提高研制的进度，提升研制的可靠性和测试效率，提高自主温控系统的测试覆盖性，具有显著的技术进步。

公开(公告)号：CN110018679A

公开(公告)日：2019-07-16

申请号：CN201910290434.2

申请日：2019-04-11

Applicant: 上海卫星工程研究所

Inventor： 吴侃侃 ,  魏晓阳 ,  郭艳丽 ,  陈德相 ,  范颖婷 ,  蒯文林 ,  黄思琴 ,  颜俊菁 ,  刘之超 ,  李瑞琴

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明涉及一种星载电子设备技术领域的航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法；所述测试系统所述系统包括航天器自主温控系统和闭环测试系统；所述航天器自主温控系统包括遥测采集模块、加热器驱动模块、处理器模块；所述闭环测试系统包括热敏电阻模拟板卡、加热器驱动检测板卡、上位机、测试终端；本发明还涉及前述测试系统的测试方法。本发明系统提出了航天器自主温控系统闭环测试方法，明确了闭环测试系统的相关组成，本发明的系统结构简单可靠，稳定性好，测试方法操作简便，测试效果良好；能够大幅缩短产品测试周期，提高研制的进度，提升研制的可靠性和测试效率，提高自主温控系统的测试覆盖性，具有显著的技术进步。