公开(公告)号：CN101949989A

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN201010285713.9

申请日：2010-09-17

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 袁晨 ,  严伟

IPC: G01R31/02 ,  G01R31/26 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明提出了一种在不同波长条件下LED漏电流的测试方法，该方法在恒温条件下，将待测LED接入TLP测试系统，通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用，实现对其漏电流的检测。为提高测试精度，排除不同形状、不同位置光源的影响，在本发明的一个实施例中引入积分球。当光束进入积分球后，经多次漫反射，就形成一个理想的漫射源。这样就可以消除光源带来的干扰，也可以消除待测LED受光面的不均匀性带来的影响。

公开(公告)号：CN103163408A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201110411014.9

申请日：2011-12-12

Applicant: 上海北京大学微电子研究院 ,  北京大学软件与微电子学院

Inventor： 严伟 ,  刘豫章 ,  张立超

IPC: G01R31/02

Abstract: 本发明公开了一种可为LED显示屏提供出厂前漏电流测试与在线漏电流比较的测控系统。其特征在于，首先在LED显示屏电路中的每颗LED管的正负两极预留检测终端，然后将上述的各个终端引入与漏电流测试仪相连的带多串行扫描功能的测控系统。该测控系统将通过特定的扫描方式依次检测不同光照与不同温度情况下，LED显示屏中每颗LED的漏电流，并将其数值及其地址存储到测控内部的专用存储器中作为参照值。在LED显示屏使用的过程中，再依次对每颗LED管进行在线扫描，并将在线测得的当前外界环境下的漏电流与出厂前的参照值作对比。以上述这种方式测量LED显示屏中各LED的漏电流，不仅可省去其在使用过程中为测试LED的漏电流而进行反复拆卸与安装LED原件的繁琐，为及时，多次地测量LED显示器在使用过程中的漏电流情况提供了便利，还可及时地通知用户替换掉处于损坏临界状态的LED管，确保了LED屏在显示外观上的完整性。

公开(公告)号：CN102004181A

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN201010285715.8

申请日：2010-09-17

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 严伟 ,  袁晨

IPC: G01R19/00 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明公开了可以实现温控的集LED漏电流与抗静电能力测试于一体的检测方案。本发明采用TLP测试系统测量漏电流，并引入恒温鼓风干燥箱控制箱实现温控调节，同时消除了空气中的湿度可能对静电测试结果的影响。采用本发明所述方法，既能利用TLP模型测量各个温度下通过LED的漏电流，反映出LED芯片的质量高低，又可以产生幅度连续可调的矩形短脉冲进行LED芯片的抗静电能力检测，说明器件存在的一些潜在失效机理。

公开(公告)号：CN103163491A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201110410827.6

申请日：2011-12-12

Applicant: 上海北京大学微电子研究院 ,  北京大学软件与微电子学院

Inventor： 严伟 ,  袁晨 ,  程玉华

IPC: G01R31/44

Abstract: 本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光，热，静电等因素，有效的固定样品，保持测试的统一性。