公开(公告)号：CN109805997B

公开(公告)日：2022-02-15

申请号：CN201910073328.9

申请日：2019-01-25

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 马艺馨 ,  李华 ,  黄宁宁 ,  崔大祥

IPC: A61B18/04

Abstract: 本发明公开了一种基于电阻抗测量的HIFU系统，涉及高强度聚焦超声技术领域，包括HIFU本体和阻抗测量系统，所述阻抗测量系统通过体表复合电极测量所述HIFU本体工作时被测对象在第一频率和第二频率下的电阻抗，判断HIFU的治疗效果并降低接触电阻影响。本发明还公开了所述HIFU系统的使用方法，基于所测的第一频率下的低频电阻抗和第二频率下的高频电阻抗，阻抗测量系统通过HIFU启动瞬间低频电阻抗的变化量，治疗期间高频电阻抗与低频电阻抗的比值，判断HIFU系统在靶区的超声功率是否正常、靶区温度上升是否正常、细胞凝固性坏死是否发生。本发明公布的HIFU系统及使用方法，安全、无创、快速、准确性高，且避免了传统方法无法实时检测HIFU期间靶区组织的温度。

公开(公告)号：CN109805997A

公开(公告)日：2019-05-28

申请号：CN201910073328.9

申请日：2019-01-25

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 马艺馨 ,  李华 ,  黄宁宁 ,  崔大祥

IPC: A61B18/04

Abstract: 本发明公开了一种基于电阻抗测量的HIFU系统，涉及高强度聚焦超声技术领域，包括HIFU本体和阻抗测量系统，所述阻抗测量系统通过体表复合电极测量所述HIFU本体工作时被测对象在第一频率和第二频率下的电阻抗，判断HIFU的治疗效果并降低接触电阻影响。本发明还公开了所述HIFU系统的使用方法，基于所测的第一频率下的低频电阻抗和第二频率下的高频电阻抗，阻抗测量系统通过HIFU启动瞬间低频电阻抗的变化量，治疗期间高频电阻抗与低频电阻抗的比值，判断HIFU系统在靶区的超声功率是否正常、靶区温度上升是否正常、细胞凝固性坏死是否发生。本发明公布的HIFU系统及使用方法，安全、无创、快速、准确性高，且避免了传统方法无法实时检测HIFU期间靶区组织的温度。