公开(公告)号：CN107121693B

公开(公告)日：2019-11-19

申请号：CN201710139151.9

申请日：2017-03-09

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 葛绪雷 ,  远晓辉 ,  杨骕 ,  方远 ,  魏文青 ,  邓彦卿 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: G01T1/29

Abstract: 本发明提供了一种基于薄膜闪烁体和光纤阵列的实时电子谱仪，包括：电子准直装置、均匀磁场装置、薄膜闪烁体、光纤线面转换阵列以及成像系统；所述电子准直装置、均匀磁场装置以及薄膜闪烁体设置在壳体内，且所述壳体在电子准直装置的轴向上有一个同轴孔，该同轴孔用于辅助电子谱仪的位置调整。本发明中的电子谱仪是在传统的基于磁场偏转的电子谱仪基础上，结合了闪烁体的实时探测、塑料光纤的低噪声和灵活、面光纤阵列与探测器像面的良好匹配等优点，实现了简单、易操作的电子谱仪，本发明中的电子谱仪可以诊断和探测能量在0.98MeV到4.55MeV的电子，并可扩展到更高的能段，在激光等离子体物理中有重要的应用价值。

公开(公告)号：CN105826158B

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201610329467.X

申请日：2016-05-17

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 杨骕 ,  远晓辉 ,  方远 ,  葛绪雷 ,  魏文青 ,  邓彦卿 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: H01J49/26

Abstract: 本发明提供了一种二维角分布质子谱仪，包括依次设置的质子筛选装置、电磁场装置以及质子探测装置，质子筛选装置包括二维点阵结构的入射孔阵列。本发明基于传统的Thomson质子谱仪，通过将Thomson质子谱仪的单个入射孔改进成入射孔阵列，能够同时测得质子束在不同方向上的能谱，进而获取质子的二维空间分布信息，从而大大提高获取质子束信息的能力。

公开(公告)号：CN107180740A

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201710283704.8

申请日：2017-04-26

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 杨骕 ,  邓彦卿 ,  远晓辉 ,  方远 ,  葛绪雷 ,  魏文青 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: H01J49/26

CPC classification number: H01J49/26

Abstract: 本发明提供一种提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪，包括外壳以及设置在外壳内的金属薄片、磁铁组件及质子探测屏幕；其中金属薄片设置在质子束的入射路径上，在金属薄片上设有入射孔，入射孔为点阵结构；磁铁组件包括两块平行间隔设置的异名磁极磁铁，质子束的入射路径穿过两块异名磁极磁铁之间；质子探测屏幕设置在质子束的入射路径上。本发明的有益效果如下：为了提高谱仪的空间分辨率，对原先的二维角分辨质子谱仪进行了改进：将针孔在一维方向上加密，使质子束信号的空间分辨角度由之前的1.9°提高到0.285°。这样能够探测更为直观的质子空间分布信息，对于激光驱动质子加速的研究起到重要的作用。

公开(公告)号：CN105826158A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610329467.X

申请日：2016-05-17

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 杨骕 ,  远晓辉 ,  方远 ,  葛绪雷 ,  魏文青 ,  邓彦卿 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: H01J49/26

CPC classification number: H01J49/26

Abstract: 本发明提供了一种二维角分布质子谱仪，包括依次设置的质子筛选装置、电磁场装置以及质子探测装置，质子筛选装置包括二维点阵结构的入射孔阵列。本发明基于传统的Thomson质子谱仪，通过将Thomson质子谱仪的单个入射孔改进成入射孔阵列，能够同时测得质子束在不同方向上的能谱，进而获取质子的二维空间分布信息，从而大大提高获取质子束信息的能力。

公开(公告)号：CN107121693A

公开(公告)日：2017-09-01

申请号：CN201710139151.9

申请日：2017-03-09

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 葛绪雷 ,  远晓辉 ,  杨骕 ,  方远 ,  魏文青 ,  邓彦卿 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: G01T1/29

Abstract: 本发明提供了一种基于薄膜闪烁体和光纤阵列的实时电子谱仪，包括：电子准直装置、均匀磁场装置、薄膜闪烁体、光纤线面转换阵列以及成像系统；所述电子准直装置、均匀磁场装置以及薄膜闪烁体设置在壳体内，且所述壳体在电子准直装置的轴向上有一个同轴孔，该同轴孔用于辅助电子谱仪的位置调整。本发明中的电子谱仪是在传统的基于磁场偏转的电子谱仪基础上，结合了闪烁体的实时探测、塑料光纤的低噪声和灵活、面光纤阵列与探测器像面的良好匹配等优点，实现了简单、易操作的电子谱仪，本发明中的电子谱仪可以诊断和探测能量在0.98MeV到4.55MeV的电子，并可扩展到更高的能段，在激光等离子体物理中有重要的应用价值。

公开(公告)号：CN205752095U

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201620449896.6

申请日：2016-05-17

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 杨骕 ,  远晓辉 ,  方远 ,  葛绪雷 ,  魏文青 ,  邓彦卿 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: H01J49/26

Abstract: 本实用新型提供了一种二维角分布质子谱仪，包括依次设置的质子筛选装置、电磁场装置以及质子探测装置，质子筛选装置包括二维点阵结构的入射孔阵列。本实用新型基于传统的Thomson质子谱仪，通过将Thomson质子谱仪的单个入射孔改进成入射孔阵列，能够同时测得质子束在不同方向上的能谱，进而获取质子的二维空间分布信息，从而大大提高获取质子束信息的能力。

公开(公告)号：CN207458889U

公开(公告)日：2018-06-05

申请号：CN201720449756.3

申请日：2017-04-26

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 杨骕 ,  邓彦卿 ,  远晓辉 ,  方远 ,  葛绪雷 ,  魏文青 ,  高健 ,  刘峰 ,  盛政明 ,  张杰

IPC: H01J49/26

Abstract: 本实用新型提供一种提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪，包括外壳以及设置在外壳内的金属薄片、磁铁组件及质子探测屏幕；其中金属薄片设置在质子束的入射路径上，在金属薄片上设有入射孔，入射孔为点阵结构；磁铁组件包括两块平行间隔设置的异名磁极磁铁，质子束的入射路径穿过两块异名磁极磁铁之间；质子探测屏幕设置在质子束的入射路径上。本实用新型的有益效果如下：为了提高谱仪的空间分辨率，对原先的二维角分辨质子谱仪进行了改进：将针孔在一维方向上加密，使质子束信号的空间分辨角度由之前的1.9°提高到0.285°。这样能够探测更为直观的质子空间分布信息，对于激光驱动质子加速的研究起到重要的作用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利