公开(公告)号：CN101481086A

公开(公告)日：2009-07-15

申请号：CN200910045964.7

申请日：2009-01-22

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 郭守武 ,  沈广霞 ,  陆怡卿

IPC: B82B3/00

Abstract: 本发明涉及一种纳米技术领域的无损伤原位构建纳米结点的方法，步骤为：对单壁碳纳米管进行纯化；用旋涂的方法将单壁碳纳米管沉积到硅基底上，加热后除去有机表面活性剂；采用原子力显微镜探针，蘸取金属前躯体后，在轻敲模式对分散在基底上的纳米管的成像，选择焊接区域并记录图像，缩小扫描范围，将中心定在需要焊接处，打开负抬高模式，使探针同时在两种模式下运作，选择负抬高模式操作时间控制纳米结点的尺寸，操纵完毕后关闭抬高模式，扩大扫描范围，在轻敲模式下对所焊的纳米结合点进行成像并记录，扫描和操纵均是同一根探针。本发明具有纳米结点尺寸可控，定位准确、无损伤和无污染等特点。

公开(公告)号：CN101481086B

公开(公告)日：2011-03-23

申请号：CN200910045964.7

申请日：2009-01-22

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 郭守武 ,  沈广霞 ,  陆怡卿

IPC: B82B3/00

Abstract: 本发明涉及一种纳米技术领域的无损伤原位构建纳米结点的方法，步骤为：对单壁碳纳米管进行纯化；用旋涂的方法将单壁碳纳米管沉积到硅基底上，加热后除去有机表面活性剂；采用原子力显微镜探针，蘸取金属前躯体后，在轻敲模式对分散在基底上的纳米管的成像，选择焊接区域并记录图像，缩小扫描范围，将中心定在需要焊接处，打开负抬高模式，使探针同时在两种模式下运作，选择负抬高模式操作时间控制纳米结点的尺寸，操纵完毕后关闭抬高模式，扩大扫描范围，在轻敲模式下对所焊的纳米结合点进行成像并记录，扫描和操纵均是同一根探针。本发明具有纳米结点尺寸可控，定位准确、无损伤和无污染等特点。