公开(公告)号：CN100582718C

公开(公告)日：2010-01-20

申请号：CN200710041119.3

申请日：2007-05-24

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 任秋实 ,  文静 ,  诸仲夏

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种光学技术领域的眼镜片光学质量测量装置。本发明包括：准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统。准直光系统位于最前端，二维光线调节系统呈L形并位于准直光系统之后，二维光线调节系统之后依次为二维眼镜旋转架、检测系统，被测眼镜放在二维眼镜旋转架上。准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统的中心同轴。本发明能正确和精确地检测眼镜的像差，特别是高阶像差且更有效地评估眼镜的像差对人眼视力的影响。

公开(公告)号：CN101055222A

公开(公告)日：2007-10-17

申请号：CN200710041119.3

申请日：2007-05-24

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 任秋实 ,  文静 ,  诸仲夏

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种光学技术领域的眼镜片光学质量测量装置。本发明包括：准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统。准直光系统位于最前端，二维光线调节系统呈L形并位于准直光系统之后，二维光线调节系统之后依次为二维眼镜旋转架、检测系统，被测眼镜放在二维眼镜旋转架上。准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统的中心同轴。本发明能正确和精确地检测眼镜的像差，特别是高阶像差且更有效地评估眼镜的像差对人眼视力的影响。