阵列扫描噪声测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106840374A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710009960.8

    申请日:2017-01-06

    Inventor: 蒋伟康 张焕强

    CPC classification number: G01H17/00

    Abstract: 一种阵列扫描噪声测量装置,包括:二维噪声采集单元、驱动单元和控制单元,其中:控制单元根据测量者的输入向驱动单元发送控制要求,驱动单元根据控制要求转化并处理成工作指令并发送至二维噪声采集单元,二维噪声采集单元使传感器阵列在横、纵两个方向电机的驱动下实现在整个竖直平面内的运动,测量给定竖直平面内的噪声信息。本发明具有高定位精度、高测试效率的能够在竖直平面内实现扫描全部测量点的阵列噪声测试装置。

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