公开(公告)号：CN105841620B

公开(公告)日：2019-01-25

申请号：CN201610164222.6

申请日：2016-03-22

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 陈巨兵 ,  姚骏 ,  唐颖 ,  周轶昊

IPC: G01B11/02

Abstract: 一种基于投影云纹方法的离面位移测量系统及方法，通过光源发出的光通过投影光栅和镜头投影到被测物体表面形成栅线，栅线受表面离面位移调制产生畸变，畸变的栅线通过成像镜头成像到参考光栅上，形成云纹，由CCD相机记录，通过分析云纹条纹图像的位相变化计算离面位移。本发明可以根据测试需求灵活调整系统的测量面积、分辨率、测量范围，即使进行大面积物体的测试时也具有很高的分辨率与精度。而且本发明测量系统的自动化程度高，采集的图像经由计算机后期处理，可实现快速批量化测量。此外，整套系统抗外界环境干扰强，适于进行现场测试。

公开(公告)号：CN105841620A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610164222.6

申请日：2016-03-22

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 陈巨兵 ,  姚骏 ,  唐颖 ,  周轶昊

IPC: G01B11/02

CPC classification number: G01B11/022

Abstract: 一种基于投影云纹方法的离面位移测量系统及方法，通过光源发出的光通过投影光栅和镜头投影到被测物体表面形成栅线，栅线受表面离面位移调制产生畸变，畸变的栅线通过成像镜头成像到参考光栅上，形成云纹，由CCD相机记录，通过分析云纹条纹图像的位相变化计算离面位移。本发明可以根据测试需求灵活调整系统的测量面积、分辨率、测量范围，即使进行大面积物体的测试时也具有很高的分辨率与精度。而且本发明测量系统的自动化程度高，采集的图像经由计算机后期处理，可实现快速批量化测量。此外，整套系统抗外界环境干扰强，适于进行现场测试。