公开(公告)号：CN113424044A

公开(公告)日：2021-09-21

申请号：CN201980091515.8

申请日：2019-02-13

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 藤原宗一郎 ,  三木伸介 ,  佐野幸治 ,  盐田直树

IPC: G01N17/00 ,  G01R31/12 ,  H02B3/00

Abstract: 一种电气设备的剩余寿命诊断方法，在电气设备中设置对影响绝缘物劣化的评价项目进行检测的检测传感器(S1)，接着，从存储有已设置的受变电设备的信息的“实绩数据库”中提取类似事例(S2)，根据类似事例的值推定设置检测传感器时的表面电阻率并且根据推定值和使用年数0年的数据来获取使用年数‑表面电阻率的关系式(S3)，利用存储有评价项目与表面电阻率之间的相关关系的“基础实验数据库”和由检测传感器获得的数据(S3)来依次计算与使用年数相对应的表面电阻率(S4)，根据在(S4)中求出的相关关系和规定的阈值来计算寿命年数(S5)，并且从在(S5)中计算出的寿命年数中减去设置检测传感器时的电气设备的使用年数，以计算剩余寿命(S6)。

公开(公告)号：CN113424044B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN201980091515.8

申请日：2019-02-13

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 藤原宗一郎 ,  三木伸介 ,  佐野幸治 ,  盐田直树

IPC: G01N17/00 ,  G01R31/12 ,  H02B3/00

Abstract: 一种电气设备的剩余寿命诊断方法，在电气设备中设置对影响绝缘物劣化的评价项目进行检测的检测传感器(S1)，接着，从存储有已设置的受变电设备的信息的“实绩数据库”中提取类似事例(S2)，根据类似事例的值推定设置检测传感器时的表面电阻率并且根据推定值和使用年数0年的数据来获取使用年数‑表面电阻率的关系式(S3)，利用存储有评价项目与表面电阻率之间的相关关系的“基础实验数据库”和由检测传感器获得的数据(S3)来依次计算与使用年数相对应的表面电阻率(S4)，根据在(S4)中求出的相关关系和规定的阈值来计算寿命年数(S5)，并且从在(S5)中计算出的寿命年数中减去设置检测传感器时的电气设备的使用年数，以计算剩余寿命(S6)。