公开(公告)号：CN101883978B

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：CN200880119063.1

申请日：2008-12-03

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 西川智志 ,  高林正和 ,  柳生荣治 ,  吉新喜市 ,  三谷干城 ,  濱谷祐多朗

IPC: G01N21/41 ,  G01D5/353 ,  G01N21/27 ,  G02B6/02

CPC classification number: G01N21/431 ,  G01D5/35383 ,  G01N2021/433 ,  G02B6/02085

Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够以简单的结构在宽的折射率范围内高灵敏度地测量被测定媒质的折射率的光纤传感器。本发明的光纤传感器具备：光纤，具备形成短周期光栅的芯和包层，在形成短周期光栅的包层部分产生由包层传输模式的泄漏所引起的透射损耗；光源，使包层传输模式的波长范围的光入射到光纤中；以及受光部，接收经过形成短周期光栅的位置的包层的光的透射光或者反射光，其中，根据受光部所接收的总受光强度来检测与包层接触的被测定媒质的折射率，光纤是多模光纤，短周期光栅具有多个周期。

公开(公告)号：CN101883978A

公开(公告)日：2010-11-10

申请号：CN200880119063.1

申请日：2008-12-03

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 西川智志 ,  高林正和 ,  柳生荣治 ,  吉新喜市 ,  三谷干城 ,  濱谷祐多朗

IPC: G01N21/41 ,  G01D5/353 ,  G01N21/27 ,  G02B6/02

CPC classification number: G01N21/431 ,  G01D5/35383 ,  G01N2021/433 ,  G02B6/02085

Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够以简单的结构在宽的折射率范围内高灵敏度地测量被测定媒质的折射率的光纤传感器。本发明的光纤传感器具备：光纤，具备形成短周期光栅的芯和包层，在形成短周期光栅的包层部分产生由包层传输模式的泄漏所引起的透射损耗；光源，使包层传输模式的波长范围的光入射到光纤中；以及受光部，接收经过形成短周期光栅的位置的包层的光的透射光或者反射光，其中，根据受光部所接收的总受光强度来检测与包层接触的被测定媒质的折射率，光纤是多模光纤，短周期光栅具有多个周期。