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公开(公告)号：CN1187677A
公开(公告)日：1998-07-15
申请号：CN97120024.6
申请日：1997-10-10
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 安达幸信 , 沖本裕美 , 林越正纪
IPC: G11C29/00
Abstract: 本动态型半导体存储器及其测试方法能缩短测试时间。在通常方式中,将升压电压Vpp供给所选择的字线WL1。在测试方式中,将比Vpp电平低的电源电压Vcc供给所选择的字线WL1。因此,在测试方式中,写入存储单元25的高电平数据比在通常方式中写入存储单元25的高电平数据的电位低。因此,能缩短产生H→L错误的时间,能缩短测试时间。
