粒子射线照射装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106669048B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201610914852.0

    申请日:2016-10-20

    Abstract: 本发明的粒子射线照射装置具备:加速器(2),其射出脉冲状的粒子射束;屏蔽构件(5),其具备将从该加速器(2)射出的脉冲状的粒子射束向照射对象物(4)的照射进行屏蔽的功能;数据库(7),其与加速器(2)的驱动条件对应地存储粒子射束的1个脉冲中的粒子数量的时间依存性;运算构件(8),其根据向照射对象物(4)照射的目标累积粒子数量和被存储在数据库(7)中的粒子射束的1个脉冲中的粒子数量的时间依存性,算出屏蔽构件(5)的屏蔽动作的时机;和屏蔽控制构件(6),其根据由运算构件(8)运算的屏蔽构件(5)的屏蔽动作的时机,控制屏蔽构件(5)。

    粒子射线照射装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106669048A

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201610914852.0

    申请日:2016-10-20

    Abstract: 本发明的粒子射线照射装置具备:加速器(2),其射出脉冲状的粒子射束;屏蔽构件(5),其具备将从该加速器(2)射出的脉冲状的粒子射束向照射对象物(4)的照射进行屏蔽的功能;数据库(7),其与加速器(2)的驱动条件对应地存储粒子射束的1个脉冲中的粒子数量的时间依存性;运算构件(8),其根据向照射对象物(4)照射的目标累积粒子数量和被存储在数据库(7)中的粒子射束的1个脉冲中的粒子数量的时间依存性,算出屏蔽构件(5)的屏蔽动作的时机;和屏蔽控制构件(6),其根据由运算构件(8)运算的屏蔽构件(5)的屏蔽动作的时机,控制屏蔽构件(5)。

    高频加速器的制造方法、高频加速器以及圆形加速器系统

    公开(公告)号:CN105027686B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201380073920.X

    申请日:2013-02-28

    Abstract: 在将从第一级线性加速器(2)射出的带电粒子入射并通过第二级线性加速器(3)进行加速的高频加速器的制造方法中,包括如下的设定步骤:对提供至功率分配装置(7)的第二级线性加速器(3)的高频功率的功率分配率(R)的值、以及从第一级线性加速器(2)的出口到第二级线性加速器(3)的入口为止的匹配部(8)的长度L与高频功率的角频率ω之间的比L/ω的值进行设定,以使得在第二级线性加速器(3)中的比基于针对各相位的入射带电粒子的相位接受度而决定的所述全高频功率的容许范围中的最大容许范围还要大的全高频功率的范围内,从第二级线性加速器(3)射出带电粒子束。

    圆形加速器以及圆形加速器的运转方法

    公开(公告)号:CN102651942B

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201210028229.7

    申请日:2012-02-09

    CPC classification number: H05H13/005 H05H7/12 H05H13/02

    Abstract: 本发明提供一种能够通过1台加速器容易地变更加速能量,且在加速中不需要变更高频加速电极部的共振频率的圆形加速器。具备:偏转电磁铁,形成偏转磁场;高频电源,用于与带电粒子的旋绕频率相匹配地产生高频电场;高频电磁场结合部,与该高频电源连接;加速电极,与该高频电磁场结合部连接;以及加速电极相对接地板,设置成在与加速电极之间形成在带电粒子的旋绕方向产生高频电场的加速空隙,偏转电磁铁生成如下偏转磁场,使带电粒子的旋绕频率在带电粒子的入射至射出的期间,相对带电粒子的射出部分的旋绕频率以0.7%以上24.7%以下的变化量变化。

    磁场测定方法及磁场测定装置

    公开(公告)号:CN108603920B

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN201680081122.5

    申请日:2016-08-22

    Abstract: 目的在于提供一种高精度地确定具备多个线圈的组合线圈的线圈间中心位置的磁场测定方法。本发明的磁场测定方法的特征在于,包括:第一径向磁场测定步骤,通过配置在从线圈轴(3)分离的偏置位置的磁场测定元件(2),在偏置位置处测定沿着与线圈轴(3)平行的偏置轴(旋转轴(4))的第一径向磁场;第二径向磁场测定步骤,在偏置位置处,通过旋转了设定角度的磁场测定元件(2),测定沿着偏置轴的第二径向磁场;以及中心位置确定步骤,基于第一径向磁场的偏置轴方向的特性即第一径向磁场特性(磁场分布(64))和第二径向磁场的偏置轴方向的特性即第二径向磁场特性(磁场分布(65))来确定线圈间中心位置。

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