数据限幅电路、集成电路和数据检测方法

    公开(公告)号:CN1604638A

    公开(公告)日:2005-04-06

    申请号:CN200410082551.3

    申请日:2004-09-20

    CPC classification number: H04N7/035 H04N7/0355

    Abstract: 本发明提供一种无需使用峰值保持电路即可检测出时钟同步信号的振幅中点的电平,结果可以缩小电路,并且在集成化的情况下缩小芯片面积的数据限幅电路、集成电路和数据检测方法。其中具备根据以规定的频率对输入信号进行采样时的上述输入信号的电平,来输出具有恒定值的差且增加或减少的数字信号的控制电路;将上述数字信号转换为模拟信号的转换电路;和将上述图像信号和上述模拟信号进行比较,并将该比较结果作为上述输入信号而输出到上述控制电路中的比较电路,并且,将与上述比较电路的比较结果对应的上述模拟信号设为用于从上述图像信号中分离出上述数据的限幅电平。

    电平比较器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1324879C

    公开(公告)日:2007-07-04

    申请号:CN200410064411.3

    申请日:2004-08-24

    CPC classification number: H03K5/082 G11C7/1084 H03K5/1534 H04L25/061

    Abstract: 本发明所要解决的问题是作为比较器的输出特性,在产生从低电平到高电平、从高电平到低电平的输出状态变化时必然会产生延迟时间。若该延迟时间长,则有所输出的数据精度降低,破坏了作为电平比较器的可靠性的问题。其解决方案是具有适当的控制电路(3),其在排他地连接两个输入信号的比较器(1)和比较器(2)的输出中,比较输出数据的状态变化时产生的延迟时间,始终选择延迟时间短的一方,从而缩短了距状态变化的延迟时间,减小了从状态变化到产生下一状态变化的时间偏差,提高了所输出的数据的精度,提高了可靠性。

    电平比较器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1595955A

    公开(公告)日:2005-03-16

    申请号:CN200410064411.3

    申请日:2004-08-24

    CPC classification number: H03K5/082 G11C7/1084 H03K5/1534 H04L25/061

    Abstract: 本发明所要解决的问题是作为比较器的输出特性,在产生从低电平到高电平、从高电平到低电平的输出状态变化时必然会产生延迟时间。若该延迟时间长,则有所输出的数据精度降低,破坏了作为电平比较器的可靠性的问题。其解决方案是具有适当的控制电路(3),其在排他地连接两个输入信号的比较器(1)和比较器(2)的输出中,比较输出数据的状态变化时产生的延迟时间,始终选择延迟时间短的一方,从而缩短了距状态变化的延迟时间,减小了从状态变化到产生下一状态变化的时间偏差,提高了所输出的数据的精度,提高了可靠性。

    数据限幅电路、集成电路和数据检测方法

    公开(公告)号:CN1330184C

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN200410082551.3

    申请日:2004-09-20

    CPC classification number: H04N7/035 H04N7/0355

    Abstract: 本发明提供一种无需使用峰值保持电路即可检测出时钟同步信号的振幅中点的电平,结果可以缩小电路,并且在集成化的情况下缩小芯片面积的数据限幅电路、集成电路和数据检测方法。其中具备根据以规定的频率对输入信号进行采样时的上述输入信号的电平,来输出具有恒定值的差且增加或减少的数字信号的控制电路;将上述数字信号转换为模拟信号的转换电路;和将上述图像信号和上述模拟信号进行比较,并将该比较结果作为上述输入信号而输出到上述控制电路中的比较电路,并且,将与上述比较电路的比较结果对应的上述模拟信号设为用于从上述图像信号中分离出上述数据的限幅电平。

Patent Agency Ranking