半导体器件的制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN85106463A

    公开(公告)日:1987-03-25

    申请号:CN85106463

    申请日:1985-08-28

    CPC classification number: Y02E10/50 Y02P70/521

    Abstract: 本发明涉及一种具有很多光电转换区的半导体器件的制造方法,该方法包括下列各步骤:准备好一个基片,在上述基片的一侧主表面上连续地形成一层半导体薄膜,再用能量束例如用激光束,从上述基片的另一侧主表面进行照射,并去除该部位的半导体薄膜,从而把上述半导体薄膜分隔成各个区域。

    半导体器件的制造方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN85106463B

    公开(公告)日:1987-07-15

    申请号:CN85106463

    申请日:1985-08-28

    CPC classification number: Y02E10/50 Y02P70/521

    Abstract: 本发明涉及一种具有很多光电转换区的半导体器件的制造方法,该方法包括下列各步骤:准备好一个基片,在上述基片的一侧主表面上连续地形成一层半导体薄膜,再用能量束,例如用激光束,从上述基片的另一侧主表面进行照射,并去除该部位的半导体薄膜,从而把上述半导体薄膜分隔成各个区域。

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