检测缺陷电子组件的装置和方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115901939A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202210991475.6

    申请日:2022-08-18

    Abstract: 本公开提供一种检测缺陷电子组件的装置和方法。一种检测缺陷电子组件的装置包括:能量源,产生能量并以非接触方式将所产生的能量传递到多个电子组件,以在所述多个电子组件中产生机械共振;机械共振检测器,检测所述多个电子组件的由于机械共振引起的振动;以及后处理处理器,将检测到的所述多个电子组件的由于所述机械共振引起的所述振动与正常产品的由于机械共振引起的参考振动进行比较,以确定所述多个电子组件是否包括一个或更多个缺陷电子组件,并且确定待提取的缺陷电子组件的信息。

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