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公开(公告)号:CN113010346B
公开(公告)日:2023-01-13
申请号:CN202110263452.9
申请日:2017-12-01
Applicant: 三星电子株式会社(KR)
Abstract: 一种半导体设备的错误检测码生成电路包括第一循环冗余校验(CRC)引擎、第二CRC引擎和输出选择引擎。第一CRC引擎响应于模式信号,基于多个第一单位数据和第一DBI位,使用第一生成矩阵来生成第一错误检测码位。第二CRC引擎响应于模式信号,基于多个第二单位数据和第二DBI位,使用第二生成矩阵来生成第二错误检测码位。输出选择引擎响应于模式信号,通过合并第一错误检测码位和第二错误检测码位来生成最终错误检测码位。第一生成矩阵与第二生成矩阵相同。