公开(公告)号：CN1722432A

公开(公告)日：2006-01-18

申请号：CN200510079422.3

申请日：2005-06-21

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金灿容 ,  金钟哲

IPC: H01L27/00 ,  G06F13/00 ,  G06K19/07

CPC classification number: G06K19/07733 ,  G06K19/07

Abstract: 集成电路基底上的多模式集成电路器件包括被配置成响应模式选择信号，在遵从国际标准化组织(ISO)规范ISO 7816的第一模式和与ISO 7816不同的第二模式下工作的控制器。第一组的输入/输出点与第一模式下的操作相关联，和第二组的输入/输出点与第二模式下的操作相关联。模式检测器电路与第二组输入/输出点的至少一个耦合并被配置成检测第二组输入/输出点的至少一个与外部设备的连接，和响应第二组输入/输出点的至少一个与外部设备的连接的检测，启动模式选择信号选择第二模式。

公开(公告)号：CN100562855C

公开(公告)日：2009-11-25

申请号：CN03128527.9

申请日：2003-02-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金钟哲

IPC: G06F11/00 ,  G06K19/07

CPC classification number: G06K19/073 ,  G06F21/87

Abstract: IC(集成电路)卡(或智能卡)包括多个检测器，用于检测IC卡的异常操作状态。如果通过一个检测器检测到异常状态，检测器将产生检测信号，然后将检测信号存储在非易失性存储器中。然后响应于检测信号生成复位信号以便复位中央处理单元。中央处理单元通知用户复位状态及其原因。

公开(公告)号：CN100530068C

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200510079422.3

申请日：2005-06-21

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金灿容 ,  金钟哲

IPC: G06F3/06

CPC classification number: G06K19/07733 ,  G06K19/07

Abstract: 集成电路基底上的多模式集成电路器件包括被配置成响应模式选择信号，在遵从国际标准化组织(ISO)规范ISO 7816的第一模式和与ISO 7816不同的第二模式下工作的控制器。第一组的输入/输出点与第一模式下的操作相关联，和第二组的输入/输出点与第二模式下的操作相关联。模式检测器电路与第二组输入/输出点的至少一个耦合并被配置成检测第二组输入/输出点的至少一个与外部设备的连接，和响应第二组输入/输出点的至少一个与外部设备的连接的检测，启动模式选择信号选择第二模式。

公开(公告)号：CN1448844A

公开(公告)日：2003-10-15

申请号：CN03128527.9

申请日：2003-02-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金钟哲

IPC: G06F11/00 ,  G06K19/07

CPC classification number: G06K19/073 ,  G06F21/87

Abstract: IC(集成电路)卡(或智能卡)包括多个检测器，用于检测IC卡的异常操作状态。如果通过一个检测器检测到异常状态，检测器将产生检测信号，然后将检测信号存储在非易失性存储器中。然后响应于检测信号生成复位信号以便复位中央处理单元。中央处理单元通知用户复位状态及其原因。

公开(公告)号：CN103543255A

公开(公告)日：2014-01-29

申请号：CN201310291731.1

申请日：2013-07-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金钟哲

IPC: G01N33/48

CPC classification number: G01N21/17 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/502753 ,  B01L2300/0806 ,  B01L2400/0409 ,  G01N35/00069

Abstract: 本发明提供了测试装置及其控制方法。该测试装置包括微流体器件以进行用于生物分子的测试且被控制以防止测试中的错误，该测试装置的控制方法包括：在托盘上安装微流体器件、将旋转驱动单元定位在微流体器件的中心、以及使旋转驱动单元上下运动至少一次使得微流体器件定位在旋转驱动单元上。

公开(公告)号：CN103543102A

公开(公告)日：2014-01-29

申请号：CN201310290116.9

申请日：2013-07-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金钟哲

IPC: G01N21/00

CPC classification number: G01N21/17 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/50273 ,  B01L2200/0605 ,  B01L2200/0647 ,  B01L2200/141 ,  B01L2200/143 ,  B01L2200/147 ,  B01L2300/069 ,  B01L2300/0858 ,  B01L2400/0409 ,  B01L2400/043 ,  B01L2400/0487 ,  B01L2400/0688 ,  G01J1/26 ,  G01J1/4209 ,  G01N21/07 ,  Y10T436/12

Abstract: 本发明提供了一种用于检测微流体装置的检测对象的测试装置及其控制方法。该测试装置包括：光发射元件，配置为发射光到微流体装置上；光接收元件，配置为通过从光发射元件发射的光来捕获检测对象的图像；以及控制器，配置为确定检测对象的图像的预定区域的信号值，并根据信号值和预定目标值之间的差异来调节光接收元件的曝光量级。