公开(公告)号：CN111105837A

公开(公告)日：2020-05-05

申请号：CN201910837264.5

申请日：2019-09-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 柳东旭 ,  金性范 ,  安将赫

IPC: G11C16/34

Abstract: 可提供一种包括处理器和传感器的电子装置。处理器基于与第一核的寿命相关的第一参数值和与第一核的操作相关的第一操作电平来获得第一核的第一退化程度。处理器基于与第二核的寿命相关的第二参数值和与第二核的操作相关的第二操作电平来获得第二核的第二退化程度。处理器基于第一退化程度和第二退化程度调度第一核和第二核的任务。传感器将第一参数值和第一操作电平提供至第一核和将第二参数值和第二操作电平提供至第二核。

公开(公告)号：CN118689681A

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202410213906.5

申请日：2024-02-27

Applicant: 三星电子株式会社 ,  高丽大学校产学协力团

Inventor： 宋宜锡 ,  金性范 ,  金载训 ,  金桢寅 ,  方炳祐 ,  李晸旻 ,  李俊渊 ,  李知润 ,  郑在润

IPC: G06F11/07 ,  G06F16/18 ,  G06N3/08 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0475

Abstract: 公开了预测计算系统中的错误的方法和装置以及训练方法。错误预测方法包括：接收在计算系统的操作期间由计算系统生成的日志数据；将日志数据令牌化为令牌；将令牌输入到生成各个令牌的得分的鉴别器模型，每个得分对应于相应令牌是异常令牌的概率；基于所述得分确定异常得分；以及基于异常得分确定计算系统中未来发生错误的可能性。

公开(公告)号：CN117950936A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202311255862.4

申请日：2023-09-26

Applicant: 三星电子株式会社 ,  高丽大学校产学协力团

Inventor： 宋宜锡 ,  金性范 ,  金载训 ,  方炳祐 ,  李俊渊 ,  李知润 ,  赵允相 ,  赵韩三 ,  金民奎 ,  崔勳成

IPC: G06F11/30 ,  G06F11/34 ,  G06N3/0464

Abstract: 提供了用于系统错误预测的设备和方法。所述用于系统错误预测的设备包括：处理器，被配置为执行指令，以及存储器，存储所述指令，所述指令在由处理器执行时将处理器配置为：使用被提供多个日志数据序列中的一个的错误预测神经网络生成系统错误预测数据，所述多个日志数据序列通过对系统的组件日志数据的多条日志数据进行预处理而生成。系统错误预测数据包括在多个时间点分别发生的多个系统错误的信息。