公开(公告)号：CN103842834B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201280049282.3

申请日：2012-10-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金廷珉 ,  徐建荣 ,  梁光模 ,  姜秉焕 ,  朴凤熙

IPC: G01R29/08

Abstract: 提供了用于测量电子设备的性能的方法和装置。所述装置包括：电磁波测量设备，用于测量电子设备的电磁波的实际电平；以及分析控制器，用于向电磁波的实际电平应用先前存储的电平改变值来计算电磁波的测量电平。在不使用根据国际标准建议的设备的情况下，用于测量电子设备的性能的方法和装置可以容易地测量电子设备的电磁波电平。

公开(公告)号：CN103842834A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201280049282.3

申请日：2012-10-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金廷珉 ,  徐建荣 ,  梁光模 ,  姜秉焕 ,  朴凤熙

IPC: G01R29/08

Abstract: 提供了用于测量电子设备的性能的方法和装置。所述装置包括：电磁波测量设备，用于测量电子设备的电磁波的实际电平；以及分析控制器，用于向电磁波的实际电平应用先前存储的电平改变值来计算电磁波的测量电平。在不使用根据国际标准建议的设备的情况下，用于测量电子设备的性能的方法和装置可以容易地测量电子设备的电磁波电平。

公开(公告)号：CN106361360A

公开(公告)日：2017-02-01

申请号：CN201610586641.9

申请日：2016-07-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金廷珉 ,  朴勋 ,  成镒 ,  李佑诚

IPC: A61B6/00

CPC classification number: H01Q9/0407 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/4405 ,  A61B6/4411 ,  A61B6/4452 ,  A61B6/56 ,  A61B6/563 ,  G03B42/02 ,  H01Q1/2291 ,  H01Q1/36 ,  H01Q5/378 ,  H01Q5/392 ,  H01Q9/0414 ,  H01Q9/42 ,  H01Q21/00 ,  H01Q21/28 ,  H01Q21/30 ,  A61B6/44

Abstract: 一种X射线检测器，包括侧部框架，覆盖物，第一天线辐射器，和第二天线辐射器，该覆盖物被联接到侧部框架的外侧，该第一天线辐射器通过被联接到侧部框架而被供应电力，该第二天线辐射器被提供在覆盖物中同时从第一天线辐射器间隔开，且被配置为与第一天线辐射器共振。

公开(公告)号：CN108056787A

公开(公告)日：2018-05-22

申请号：CN201711084620.8

申请日：2017-11-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 元昶渊 ,  金昌珉 ,  张相同 ,  金润锡 ,  金廷珉

IPC: A61B8/00

Abstract: 本发明提供一种用于超声诊断设备的探头。所述探头包括：换能器模块，包括被构造为发送并接收超声波的换能器；第一壳体，放置在所述换能器模块之下，以支撑所述换能器模块；第二壳体，沿着所述第一壳体的周边延伸并且与所述第一壳体一体地形成；热传播器，放置在所述换能器模块之下且在所述第一壳体之上，这里，所述热传播器为金属片。